【資料名稱】：MOS測試報告

【資料作者】：華為

【資料日期】：2010-11

【資料語言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡介】：

MOS測試報告

1概述3
1.1語音質(zhì)量測試方法及原理3
1.2測試工具4
1.3測試項目5
2DTX功能對MOS值的影響（EFR情況下）6
2.1測試目的6
2.2測試原理6
2.3開啟UL_DTX，關(guān)閉DL_DTX6
2.4開啟DL_DTX，關(guān)閉UL_DTX6
2.5關(guān)閉UL_DTX和DL_DTX7
2.6開啟UL_DTX和DL_DTX7
2.7DTX對MOS的影響小結(jié)7
3上下行功率控制對MOS值的影響（無線環(huán)境較好）8
3.1測試目的8
3.2開啟UL_PWRC，關(guān)閉DL_PWRC8
3.3開啟DL_PWRC，關(guān)閉UL_PWRC8
3.4關(guān)閉UL_PWRC和DL_PWRC8
3.5開啟UL_PWRC和DL_PWRC8
3.6功率控制對MOS的影響9
4話音編碼速率不同對MOS值的影響（無線環(huán)境較好）10
4.1測試目的10
4.2測試原理10
4.3采用增強型全速率編碼11
4.4采用全速率編碼11
4.5采用半速率編碼11
4.6話音編碼速率不同對MOS的影響12
5話音編碼速率不同對MOS值的影響（無線環(huán)境較差）13
5.1測試目的13
5.2采用增強型全速率編碼13
5.3采用全速率編碼13
5.4采用半速率編碼13
5.5話音編碼速率不同對MOS的影響14
6切換對MOS值的影響15
6.1測試目的15
6.2測試原理15
6.3設(shè)置為 EFR時的測試情況15
6.4設(shè)置為 HR時的測試情況16
6.5設(shè)置為 EFR＋HR時的測試情況17
6.6切換對MOS值的影響小結(jié)18
7總結(jié)19