【資料名稱(chēng)】：尋呼成功率分析

【資料作者】：DT

【資料日期】：2011-5-24

【資料語(yǔ)言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡(jiǎn)介】：

一、概述1
二、專(zhuān)題分析1
2.1尋呼指標(biāo)分析：1
2.2尋呼統(tǒng)計(jì)點(diǎn)分析：2
2.2.1 第一次發(fā)尋呼次數(shù)：2
2.2.2 第一次尋呼響應(yīng)次數(shù)：2
2.2.3重復(fù)發(fā)尋呼次數(shù)：2
2.2.4 重復(fù)尋呼響應(yīng)次數(shù)：3
2.3觸發(fā)尋呼的原因；3
2.4尋呼成功率的分析3
2.4.1 尋呼成功率低原因：3
2.4.2 常用話(huà)務(wù)統(tǒng)計(jì)：4
2.5尋呼參數(shù)設(shè)置策略4
2.5.1 基本參數(shù)設(shè)置策略；4
2.5.2 T3212以及IMSI隱式分離時(shí)間的設(shè)置4
2.5.3 用IMSI或者TMSI進(jìn)行尋呼5
2.6尋呼方面常見(jiàn)問(wèn)題5
2.6.1尋呼時(shí)長(zhǎng)的設(shè)置5
2.6.2RACH最小接入電平的設(shè)置6
2.6.3隱含關(guān)機(jī)時(shí)間的設(shè)置7
2.6.4MS最大重發(fā)次數(shù)7
2.6.4SDCCH指配問(wèn)題7
三、典型案例8
3.1鄂爾多斯尋呼問(wèn)題分析8
3.1.1關(guān)于不同MSC同時(shí)出現(xiàn)兩個(gè)相同LAC的問(wèn)題分析8
問(wèn)題背景8
問(wèn)題描述8
問(wèn)題分析9
優(yōu)化調(diào)整11
優(yōu)化效果11
3.1.2從尋呼黑洞小區(qū)的角度來(lái)提高尋呼成功率13
問(wèn)題背景13
問(wèn)題描述13
問(wèn)題分析14
優(yōu)化調(diào)整14
優(yōu)化效果14
3.1.3從位置更新的角度來(lái)提高尋呼成功率15
問(wèn)題背景15
問(wèn)題描述15
問(wèn)題分析17
優(yōu)化調(diào)整18
優(yōu)化效果18
四、總結(jié)19