【資料名稱】：LTE測(cè)試問(wèn)題解決方案

【資料作者】：XXX

【資料日期】：2011-12-13

【資料語(yǔ)言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡(jiǎn)介】：

在LTE模塊和整機(jī)的研發(fā)階段,工程師們的關(guān)注點(diǎn)主要集中在以下幾個(gè)方面：如何靈活地對(duì)LTE射頻和基帶信號(hào)進(jìn)行模擬產(chǎn)生和分析；如何對(duì)不同的MIMO 模式進(jìn)行測(cè)試,并驗(yàn)證其性能；如何在協(xié)議棧開(kāi)發(fā)的早期進(jìn)行測(cè)試,使之符合一致性的要求；如何在射頻研發(fā)測(cè)試的早期進(jìn)行符合一致性要求的測(cè)試等等。R&S針對(duì)這些需求提供了相應(yīng)的解決方案。

LTE信號(hào)的產(chǎn)生和分析：R&S的信號(hào)源,如SMU200A、SMJ100A、SMATE200A以及SMBV,加上K55選件后就可以按照TS36.211標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定實(shí)時(shí)地產(chǎn)生LTE FDD和LTE TDD的上下行射頻信號(hào),用于元器件性能測(cè)試以及基站和移動(dòng)終端的接收機(jī)測(cè)試。由于K55內(nèi)置在信號(hào)源里,客戶可以極為方便地設(shè)置并產(chǎn)生信號(hào)。此外R&S的雙通道基帶信號(hào)源及衰落模擬器AMU200A,加上K55選件后就可以產(chǎn)生LTE的基帶信號(hào),用于LTE研發(fā)早期基帶信號(hào)的模擬。通過(guò)R&S提供的EX-IQ-BOX,用戶可以產(chǎn)生適合自己需要的數(shù)字基帶信號(hào)格式。