【資料名稱】：Gb接口割接經(jīng)驗(yàn)總結(jié)
【資料作者】：華為

【資料日期】：2010

【資料語(yǔ)言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡(jiǎn)介】：

第1章 概述2
1.1 概述2
1.1.1 概述2
1.1.2 割接過(guò)程中發(fā)生了哪些變化2
1.2 割接過(guò)程的監(jiān)控2
1.2.1 M2000上話統(tǒng)指標(biāo)的監(jiān)控2
1.2.2 問(wèn)題定位系統(tǒng)3
第2章 割接過(guò)程中話統(tǒng)指標(biāo)的變化4
2.1 割接中關(guān)注的話統(tǒng)指標(biāo)4
2.1.1 需要關(guān)注的話統(tǒng)指標(biāo)4
2.2 附著成功率4
2.2.1 割接對(duì)附著流程的影響4
2.2.2 割接對(duì)附著成功率變化的分析4
2.3 Intra-RAU成功率5
2.3.1 割接對(duì)Intra-RAU流程的影響5
2.3.2 割接對(duì)Intra-RAU成功率變化的分析5
2.4 PDP激活成功率6
第3章 割接過(guò)程中的注意事項(xiàng)7
3.1 Inter-RAU指標(biāo)的監(jiān)控7
3.2 小區(qū)上報(bào)問(wèn)題7