【資料名稱(chēng)】：影響MOS指標(biāo)的測(cè)試分析報(bào)告

【資料作者】：zz

【資料日期】：2012-3-1

【資料語(yǔ)言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡(jiǎn)介】：

1概述3
1.1語(yǔ)音質(zhì)量測(cè)試方法及原理3
1.2測(cè)試工具4
1.3測(cè)試項(xiàng)目5
2DTX功能對(duì)MOS值的影響（EFR情況下）6
2.1測(cè)試目的6
2.2測(cè)試原理6
2.3開(kāi)啟UL_DTX，關(guān)閉DL_DTX6
2.4開(kāi)啟DL_DTX，關(guān)閉UL_DTX6
2.5關(guān)閉UL_DTX和DL_DTX7
2.6開(kāi)啟UL_DTX和DL_DTX7
2.7DTX對(duì)MOS的影響小結(jié)7
3上下行功率控制對(duì)MOS值的影響（無(wú)線環(huán)境較好）8
3.1測(cè)試目的8
3.2開(kāi)啟UL_PWRC，關(guān)閉DL_PWRC8
3.3開(kāi)啟DL_PWRC，關(guān)閉UL_PWRC8
3.4關(guān)閉UL_PWRC和DL_PWRC8
3.5開(kāi)啟UL_PWRC和DL_PWRC8
3.6功率控制對(duì)MOS的影響9
4話音編碼速率不同對(duì)MOS值的影響（無(wú)線環(huán)境較好）10
4.1測(cè)試目的10
4.2測(cè)試原理10
4.3采用增強(qiáng)型全速率編碼11
4.4采用全速率編碼11
4.5采用半速率編碼11
4.6話音編碼速率不同對(duì)MOS的影響12
5話音編碼速率不同對(duì)MOS值的影響（無(wú)線環(huán)境較差）13
5.1測(cè)試目的13
5.2采用增強(qiáng)型全速率編碼13
5.3采用全速率編碼13
5.4采用半速率編碼13
5.5話音編碼速率不同對(duì)MOS的影響14
6切換對(duì)MOS值的影響15
6.1測(cè)試目的15
6.2測(cè)試原理15
6.3設(shè)置為 EFR時(shí)的測(cè)試情況15
6.4設(shè)置為 HR時(shí)的測(cè)試情況16
6.5設(shè)置為 EFR＋HR時(shí)的測(cè)試情況17
6.6切換對(duì)MOS值的影響小結(jié)18
7總結(jié)19