A+Abis接口信令測試采集方案
近年來，通過信令測試來進行無線網(wǎng)絡優(yōu)化已經(jīng)越來越受到運營商的青睞和重視。例如利用基于2G網(wǎng)絡A+Abis信令測試的網(wǎng)絡優(yōu)化在實踐中就得到了很好的應用。
一、系統(tǒng)優(yōu)勢
通過A+Abis信令采集搭建起來的網(wǎng)絡優(yōu)化，是能夠直正體現(xiàn)用戶感知的一種高端網(wǎng)絡優(yōu)化手段，可以為運營商提供個性化的優(yōu)化服務。網(wǎng)絡優(yōu)化測試同故障診斷測試存在較大的差別，它具有幾個明顯的特點：
a. 它屬于一種預防性維護方式，在開始網(wǎng)絡優(yōu)化時，網(wǎng)絡并不一定存在明顯的問題；
b. 網(wǎng)絡優(yōu)化一般不是針對某個或某幾個終端進行信令分析；
c. 網(wǎng)絡優(yōu)化通常需要收集大量數(shù)據(jù)，然后通過對一系列關鍵性能指標（KPI）的統(tǒng)計，來分析網(wǎng)絡中存在的潛在問題。由于這些問題可能會導致網(wǎng)絡服務質量下降，工程師正是通過優(yōu)化這些指標來不斷提高網(wǎng)絡的服務質量。
d. 對長期采集的海量數(shù)據(jù)進行自動分析，對網(wǎng)絡優(yōu)化的工作效率也是非常重要的。
二、A接口與Abis接口位置
Abis接口是BSC與BTS之間的接口。傳統(tǒng)BSC的Abis傳輸是電口E1通過DDF架與傳輸網(wǎng)的SDH ADM相連；新的BSC的Abis傳輸是STM-1光口通過ODF架與傳輸網(wǎng)的SDH ADM相連。A接口是BSC與MGW（或者MSC）之間的接口。一般分為E1電口或STM-1光口。MGW、BSC、BTS之間的連接拓撲如下圖

三、A+Abis信令采集接入方式
Abis接口傳輸帶寬一般有上百條E1，每條E1都分布有載頻通道，因而對Abis接口復接造成很大的復接壓力。怎樣減少復接施工量、壓縮采集設備成本是Abis采集系統(tǒng)的一大挑戰(zhàn)。
Abis接口采集接入方式分為兩種方式，一種是傳輸光環(huán)分光方式，另一種是BSC側E1復接方式。A接口采集接入方式可分為兩種方式，對光A口采取分光方式，對電E1口采集采用高阻搭接方式。下圖是利用意捷系列采集硬件進行A+Abis接口信令采集的連接結構圖

圖中的Abis光環(huán)分光方式是將2.5G/10G傳輸光環(huán)分光后通過SDH光端機速率調整到622M的STM-4光纖，利用K21采集板卡進行信令采集；Abis的E1電口復接方式是高阻搭接所有Abis口E1，通過專用的電光轉換模塊實現(xiàn)622M的STM-4或155M的STM-1光信號后（也可先通過大容量E1均衡設備將E1弱信號還原后再通過光端機將E1信號轉換成STM-1/4光信號），連接到K14或K21采集板卡進行信令采集。
由于光環(huán)分光方式不需要復接大量E1電口，工程施工量小，因而是現(xiàn)場環(huán)境中優(yōu)先選擇的一種方案。

圖中光端機完成STM-16向STM-4的速率調整與E1鏈路的時隙交叉。