A+Abis接口信令測(cè)試采集方案
近年來，通過信令測(cè)試來進(jìn)行無線網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化已經(jīng)越來越受到運(yùn)營(yíng)商的青睞和重視。例如利用基于2G網(wǎng)絡(luò)A+Abis信令測(cè)試的網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化在實(shí)踐中就得到了很好的應(yīng)用。
一、系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)
通過A+Abis信令采集搭建起來的網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化，是能夠直正體現(xiàn)用戶感知的一種高端網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化手段，可以為運(yùn)營(yíng)商提供個(gè)性化的優(yōu)化服務(wù)。網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化測(cè)試同故障診斷測(cè)試存在較大的差別，它具有幾個(gè)明顯的特點(diǎn)：
a. 它屬于一種預(yù)防性維護(hù)方式，在開始網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化時(shí)，網(wǎng)絡(luò)并不一定存在明顯的問題；
b. 網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化一般不是針對(duì)某個(gè)或某幾個(gè)終端進(jìn)行信令分析；
c. 網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化通常需要收集大量數(shù)據(jù)，然后通過對(duì)一系列關(guān)鍵性能指標(biāo)（KPI）的統(tǒng)計(jì)，來分析網(wǎng)絡(luò)中存在的潛在問題。由于這些問題可能會(huì)導(dǎo)致網(wǎng)絡(luò)服務(wù)質(zhì)量下降，工程師正是通過優(yōu)化這些指標(biāo)來不斷提高網(wǎng)絡(luò)的服務(wù)質(zhì)量。
d. 對(duì)長(zhǎng)期采集的海量數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)分析，對(duì)網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化的工作效率也是非常重要的。
二、A接口與Abis接口位置
Abis接口是BSC與BTS之間的接口。傳統(tǒng)BSC的Abis傳輸是電口E1通過DDF架與傳輸網(wǎng)的SDH ADM相連；新的BSC的Abis傳輸是STM-1光口通過ODF架與傳輸網(wǎng)的SDH ADM相連。A接口是BSC與MGW（或者M(jìn)SC）之間的接口。一般分為E1電口或STM-1光口。MGW、BSC、BTS之間的連接拓?fù)淙缦聢D

三、A+Abis信令采集接入方式
Abis接口傳輸帶寬一般有上百條E1，每條E1都分布有載頻通道，因而對(duì)Abis接口復(fù)接造成很大的復(fù)接壓力。怎樣減少?gòu)?fù)接施工量、壓縮采集設(shè)備成本是Abis采集系統(tǒng)的一大挑戰(zhàn)。
Abis接口采集接入方式分為兩種方式，一種是傳輸光環(huán)分光方式，另一種是BSC側(cè)E1復(fù)接方式。A接口采集接入方式可分為兩種方式，對(duì)光A口采取分光方式，對(duì)電E1口采集采用高阻搭接方式。下圖是利用意捷系列采集硬件進(jìn)行A+Abis接口信令采集的連接結(jié)構(gòu)圖

圖中的Abis光環(huán)分光方式是將2.5G/10G傳輸光環(huán)分光后通過SDH光端機(jī)速率調(diào)整到622M的STM-4光纖，利用K21采集板卡進(jìn)行信令采集；Abis的E1電口復(fù)接方式是高阻搭接所有Abis口E1，通過專用的電光轉(zhuǎn)換模塊實(shí)現(xiàn)622M的STM-4或155M的STM-1光信號(hào)后（也可先通過大容量E1均衡設(shè)備將E1弱信號(hào)還原后再通過光端機(jī)將E1信號(hào)轉(zhuǎn)換成STM-1/4光信號(hào)），連接到K14或K21采集板卡進(jìn)行信令采集。
由于光環(huán)分光方式不需要復(fù)接大量E1電口，工程施工量小，因而是現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境中優(yōu)先選擇的一種方案。

圖中光端機(jī)完成STM-16向STM-4的速率調(diào)整與E1鏈路的時(shí)隙交叉。