【資料名稱】：無源器件性能測試及對現(xiàn)網(wǎng)影響分析

【資料作者】：無

【資料日期】：2011-02-28

【資料語言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡介】：


摘要4
一、常用無源器件及關(guān)鍵性指標(biāo)5
1.1常用無源器件簡介5
1.1.1電橋5
1.1.2耦合器6
1.1.3負(fù)載7
1.1.4功分器7
1.2無源器件的關(guān)鍵性指標(biāo)8
1.2.1互調(diào)抑制8
1.2.2隔離度8
1.2.3駐波10
1.2.4功率容限11
二、現(xiàn)網(wǎng)微蜂窩問題綜述12
三、下行功控實驗及結(jié)論13
四、單站測試16
4.1測試站點概述16
4.2電橋＋負(fù)載測試16
4.3直接負(fù)載測試17
4.4電橋＋負(fù)載＋頻譜儀測試18
五、第一次泰爾實驗室測試20
5.1常規(guī)測試20
5.1.1廠家1電橋20
5.1.2廠家2電橋測試數(shù)據(jù)22
5.1.3廠家3電橋23
5.1.4常規(guī)指標(biāo)測試結(jié)論24
5.2功率容限測試26
5.2.1測試方法26
5.2.2測試數(shù)據(jù)與分析27
5.2.3功率耐受性測試結(jié)論28
六、第二次泰爾實驗室測試31
6.1電橋樣品測試結(jié)論31
6.1.1電橋隔離度測試31
6.1.2電壓駐波比測試31
6.1.3電橋三階互調(diào)抑制比測試32
6.1.4電橋耐功率測試32
6.2耦合器樣品測試結(jié)論33
6.2.1耦合器常規(guī)四項測試結(jié)論33
6.2.2耦合器三階互調(diào)抑制比測試33
6.2.3耦合器耐功率測試34
6.3負(fù)載樣品測試結(jié)論35
6.3.1負(fù)載電壓駐波比測試35
6.3.2負(fù)載三階互調(diào)抑制測試36
6.3.3負(fù)載功率耐受性測試36
七、諾西射頻實驗室測試38
7.1實驗?zāi)繕?biāo)及總體方案38
7.2干擾波形測試39
7.3干擾波形理論分析41
7.3.1改變頻譜間隔實驗42
7.3.2互調(diào)產(chǎn)物對比測試42
7.3.3測試數(shù)據(jù)理論分析及結(jié)論43
八、結(jié)論與建議46
8.1綜合結(jié)論46
8.2下一步工作計劃及建議46
九、成果推廣與應(yīng)用48
9.1鼎好大廈高溫環(huán)境導(dǎo)致電橋互調(diào)指標(biāo)惡化48
9.2二功分臨時應(yīng)急替代電橋法49
9.3地鐵天安門東站收發(fā)分纜解決電橋互調(diào)干擾50
參考文獻(xiàn)：52