【資料名稱】：載頻環(huán)測

【資料作者】：111

【資料日期】：2012-9-5

【資料語言】：中文

【資料格式】：DOC

【資料目錄和簡介】：

ZUBP:TR:BTS=XX,TRX=XX；解釋備注
FAILED REASON: CIRCUIT NOT FREE測試電路被占用在部分站點(diǎn)進(jìn)行載頻環(huán)測時(shí)，BCCH所在載頻有三個(gè)時(shí)隙不能做為TX信道進(jìn)行測試，測試時(shí)RX信道正好占用了0時(shí)隙
FAILED REASON: TEST RADIO CHANNEL CANNOT BE ALLOCATED測試所用信道不能被分配在部分站點(diǎn)進(jìn)行載頻環(huán)測時(shí)，BCCH所在載頻有三個(gè)時(shí)隙不能做為TX信道進(jìn)行測試，測試時(shí)RX信道正好占用了0時(shí)隙

FAILED REASON: TEST REPORT NOT FOUND FROM REPORT HISTORY測試報(bào)告無法從歷史報(bào)告中找到建議使用BTS Manager對個(gè)案個(gè)別站點(diǎn)單獨(dú)測試


FAILED REASON: BER/FER OUT OF RANGEBER/FER 超出范圍：在載頻環(huán)測過程中檢測到超出正常范圍的高誤碼率>2%。"受基站側(cè)影響，出現(xiàn)此問題時(shí)，可能有如下原因：
1. RF射頻線纜是否有損傷及老化現(xiàn)象；
2. 是否在環(huán)測過程中是有相同頻點(diǎn)的鄰站；
3. 是否雙工發(fā)射器工作異常；
4. 載頻是否工作正常；
需參考實(shí)際話務(wù)質(zhì)量確定失敗原因，如無硬件告警，無同頻鄰站時(shí)，可忽略此失敗原因。
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FAILED REASON: BTS BUSY載頻有時(shí)隙占用，不能被測試在無時(shí)隙占用下繼續(xù)測試。

FAILED REASON: HARDWARE FAILURE硬件故障，需進(jìn)一步驗(yàn)證"如果此站使用RTC或EOCA這2類板件，此環(huán)測結(jié)果可接受，在內(nèi)部電路復(fù)雜條件下，載頻環(huán)測過程可能受到干擾，建議使用BTS Manager進(jìn)一步環(huán)測驗(yàn)證；
如有載頻硬件告警，請更換故障載頻；
檢查RF射頻連線是否老化，導(dǎo)致連接出點(diǎn)虛連；
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