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如圖所示，信號(hào)在較好的水平狀態(tài)下，RxQual突然出現(xiàn)了零星1秒左右的7級(jí)質(zhì)差，前后占用時(shí)長(zhǎng)較長(zhǎng)質(zhì)量都呈較好狀態(tài)，已排查周邊站點(diǎn)無(wú)同鄰頻干擾、該小區(qū)功控設(shè)置如下：SSDESDL：75，LCOMPDL：15。

測(cè)試設(shè)備：諾優(yōu)ATU、鼎利ATU

測(cè)試過(guò)程中零星的7級(jí)質(zhì)差太影響MOS質(zhì)量了，無(wú)視不起，出現(xiàn)了一次零星的7級(jí)質(zhì)差就會(huì)引起丟幀現(xiàn)象、丟信令，輸出一個(gè)低于2.8的MOS采樣點(diǎn)；

1、終端故障及基站隱性故障均較難定位，類似解釋合理，無(wú)證據(jù)情況；
2、復(fù)測(cè)較難模擬當(dāng)時(shí)狀況，TEMS復(fù)測(cè)也無(wú)法明顯看出TCH干擾頻點(diǎn)，一般跳頻組里的TCH表現(xiàn)出的C/I均處于較優(yōu)狀態(tài)；
3、關(guān)閉下行功控在實(shí)驗(yàn)中部分小區(qū)是有效果的，可以減少出現(xiàn)的頻次，好像不能根治，部分小區(qū)無(wú)明顯改善效果。
2012年9月13日：
1、關(guān)閉功控對(duì)于覆蓋控制較好的小區(qū)是比較好的，對(duì)于廣覆蓋的小區(qū)好像本身小區(qū)是沒(méi)有了，但周邊以前不會(huì)出的小區(qū)亦會(huì)出現(xiàn)，且頻次較高，不知道是否存在一定的關(guān)聯(lián)。
2、現(xiàn)在城區(qū)頻率一般保證邏輯及物理鄰區(qū)不同頻，主要接續(xù)鄰區(qū)不鄰頻。
3、現(xiàn)在一般測(cè)試均采用不在一個(gè)server下，TFO開啟對(duì)不在一個(gè)server下的兩個(gè)MS幫助不是特別大。
4、一般檢查出現(xiàn)質(zhì)差的小區(qū)都無(wú)告警及歷史告警、無(wú)傳輸誤碼。
5、關(guān)閉DTX尚未實(shí)驗(yàn)。

[ 本帖最后由 XIEZHIMING 于 2012-9-13 21:31 編輯 ]