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如圖所示，信號在較好的水平狀態(tài)下，RxQual突然出現(xiàn)了零星1秒左右的7級質(zhì)差，前后占用時長較長質(zhì)量都呈較好狀態(tài)，已排查周邊站點無同鄰頻干擾、該小區(qū)功控設(shè)置如下：SSDESDL：75，LCOMPDL：15。

測試設(shè)備：諾優(yōu)ATU、鼎利ATU

測試過程中零星的7級質(zhì)差太影響MOS質(zhì)量了，無視不起，出現(xiàn)了一次零星的7級質(zhì)差就會引起丟幀現(xiàn)象、丟信令，輸出一個低于2.8的MOS采樣點；

1、終端故障及基站隱性故障均較難定位，類似解釋合理，無證據(jù)情況；
2、復(fù)測較難模擬當(dāng)時狀況，TEMS復(fù)測也無法明顯看出TCH干擾頻點，一般跳頻組里的TCH表現(xiàn)出的C/I均處于較優(yōu)狀態(tài)；
3、關(guān)閉下行功控在實驗中部分小區(qū)是有效果的，可以減少出現(xiàn)的頻次，好像不能根治，部分小區(qū)無明顯改善效果。
2012年9月13日：
1、關(guān)閉功控對于覆蓋控制較好的小區(qū)是比較好的，對于廣覆蓋的小區(qū)好像本身小區(qū)是沒有了，但周邊以前不會出的小區(qū)亦會出現(xiàn)，且頻次較高，不知道是否存在一定的關(guān)聯(lián)。
2、現(xiàn)在城區(qū)頻率一般保證邏輯及物理鄰區(qū)不同頻，主要接續(xù)鄰區(qū)不鄰頻。
3、現(xiàn)在一般測試均采用不在一個server下，TFO開啟對不在一個server下的兩個MS幫助不是特別大。
4、一般檢查出現(xiàn)質(zhì)差的小區(qū)都無告警及歷史告警、無傳輸誤碼。
5、關(guān)閉DTX尚未實驗。

[ 本帖最后由 XIEZHIMING 于 2012-9-13 21:31 編輯 ]