VoLTE語音MOS優(yōu)化分析方法
1、MOS差的問題點定位
測試log單次通話連續(xù)兩個采樣點MOS值小于3的問題點定義為MOS差的問題點。
注意事項：需剔除通話結束的最后一個采樣點與下次通話第一個采樣點的MOS值都小于3的問題點。
2、MOS優(yōu)化分析方法
由MOS采樣點機制可以看出，MOS采樣點收集的是采樣時間點前8秒的語音質量，所以在分析的時候，需著重分析MOS采樣時間前8秒UE本端的下行（包括：無線環(huán)境、語音編碼、抖動、丟包、頻繁切換、RRC重建、異頻測量頻次等），以及對端的上行（包括：頻繁切換、RRC重建、異頻測量頻次等）。
三、VoLTE語音MOS值的影響因素及優(yōu)化思路
1、MOS值的影響因素
MOS值的直接影響因素為：端到端時延、抖動、丟包；
VoLTE端到端時延可以分解為：UE語音編/解碼時延、空口傳輸時延、核心網的處理時延、傳輸網的傳輸時延。丟包和抖動的影響因素包括：空口信號質量、eNB負載、傳輸網的丟包和抖動。
故將以上因素分解后，MOS的影響因素包括：語音編碼、覆蓋、干擾、切換、鄰區(qū)、基站負荷、基站故障、傳輸、核心網、測試終端、人為操作失誤等。
2、MOS值的優(yōu)化思路
結合以上影響因素和前期VoLTE拉網測試時遇到的MOS問題，共總結出四類問題點類型：無線問題、基站異常、測試規(guī)范和設備、核心網/傳輸。
在分析MOS問題時，我們首先要考慮基站是否正常工作，其次考慮測試是否規(guī)范、測試設備是否正常，再次判斷是否為無線問題造成的，最后才考慮是否核心網及傳輸網引起的。
因此我們在分析MOS問題時，應該按以下步驟進行MOS優(yōu)化：