1 概述

本《LTE掉話(huà)優(yōu)化指導(dǎo)書(shū)》重點(diǎn)介紹了LTE系統(tǒng)內(nèi)掉話(huà)率指標(biāo)的優(yōu)化思路、分析方法、定位手段及典型案例；

本《指導(dǎo)書(shū)》結(jié)構(gòu)如下：

第一部分 主要從路測(cè)、標(biāo)準(zhǔn)接口、話(huà)統(tǒng)、CHR多角度出發(fā)給出了掉話(huà)的定義；

第二部分 給出了常見(jiàn)的掉話(huà)原因，掉話(huà)機(jī)制的介紹；

第三部分 介紹了掉話(huà)問(wèn)題的隔離定位分析方法；

第四部分 分享了掉話(huà)優(yōu)化的典型案例；

第五部分 介紹了CHR數(shù)據(jù)的分析方法，影響掉話(huà)的定時(shí)器介紹及重建的機(jī)制介紹。

2 CHR數(shù)據(jù)分析方法

2.1. L3打點(diǎn)信息介紹

掉話(huà)問(wèn)題定位分析過(guò)程中，主要涉及的L3字段如下：

2.1.1. 同一次呼叫的判斷

在CHR數(shù)據(jù)中，由于L1、L2、L3、FPGA等信息都是在不同記錄中獨(dú)立顯示的，故如何判斷這些信息屬于同一次呼叫需要按照ulCallID字段來(lái)判斷。通常相同時(shí)間段內(nèi)CallID相同的記錄就屬于同一次呼叫。


圖1 CallID字段


2.1.2. 內(nèi)部釋放原因

CHR內(nèi)部釋放原因值字段名稱(chēng)為“usRelCause”，位于InnerRelEvent節(jié)點(diǎn)下，用于指示內(nèi)部釋放的原因值，但其中并不是所有的釋放原因都是掉話(huà)原因，部分內(nèi)部釋放其實(shí)并不會(huì)導(dǎo)致掉話(huà)，常見(jiàn)的掉話(huà)原因參見(jiàn)下表所示：

圖2 異常釋放原因值界面


2.1.3. 業(yè)務(wù)建立所在CellID

在CHR內(nèi)部，業(yè)務(wù)建立所在的CELLID在InitialUeMsg內(nèi)進(jìn)行記錄，字段名稱(chēng)為“ulCellId”，該字段是以eNodeBID+LocalCellID的方式進(jìn)行記錄。

圖3 小區(qū)ID字段界面
 

在優(yōu)化分析過(guò)程中，需要將CHR記錄的10進(jìn)制CellID先轉(zhuǎn)化為16進(jìn)制，然后后兩位標(biāo)識(shí)的是Cell ID，剩余的前幾位標(biāo)識(shí)的是eNodeBID，然后再分別將這幾位轉(zhuǎn)換成10進(jìn)制既得到實(shí)際的eNodeBID及CellID舉例如下：

圖4 顯示界面



如上圖所示，某站點(diǎn)CHR記錄到的ulCellId字段的數(shù)據(jù)為“80386052”，轉(zhuǎn)換成16進(jìn)制為“4CA9804”，然后取右邊最后兩位“04”為Cell ID，轉(zhuǎn)換成10進(jìn)制既得到了Cell ID為“4”；而剩余的左邊5位為“4CA98”，轉(zhuǎn)換成10進(jìn)制為既得到eNodeB ID為“314008”，然后通過(guò)工參信息表或者M(jìn)apInfo等工具查找該站點(diǎn)的相關(guān)信息。


2.1.4. Top用戶(hù)識(shí)別方法

由于安全原因，LTE eNB側(cè)無(wú)法提供IMSI的記錄，故當(dāng)前Top用戶(hù)的判斷主要是依據(jù)終端接入時(shí)上報(bào)的TMSI進(jìn)行判定；當(dāng)前華為核心網(wǎng)TMSI分配的機(jī)制是對(duì)于同一個(gè)IMSI用戶(hù)，TMSI的右起第3個(gè)byte（既右起的第5、6位）的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)賦值，即某用戶(hù)的TMSI中只有**指示的8bits位置發(fā)生變化（如AA ** BB CC）就是同一用戶(hù)，如下圖所示，C0 ** 00 05就是同一個(gè)用戶(hù)。

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