11.1　測(cè)試內(nèi)容

TD-LTE RAN設(shè)備與TD-LTE UE設(shè)備的Uu接口IOT的測(cè)試內(nèi)容主要包括：

· 物理層基本功能測(cè)試；

· 物理信道、鏈路自適應(yīng)與調(diào)度；

· 多天線技術(shù)測(cè)試；

· 高層協(xié)議基本功能測(cè)試；

· 系統(tǒng)基本性能測(cè)試；

根據(jù)TD-LTE的測(cè)試安排，不同型號(hào)的TD-LTE UE設(shè)備在不同制造商的TD-LTE系統(tǒng)中完成以上測(cè)試內(nèi)容。

11.2測(cè)試配置

本規(guī)范中，Uu接口IOT測(cè)試所需的基本環(huán)境配置如圖1　所示。

測(cè)試系統(tǒng)由3部分構(gòu)成，包括TD-LTE UE（亦稱為用戶設(shè)備（User Equipment，UE））、演進(jìn)型核心網(wǎng)EPC（即圖中的MME/S-GW）和演進(jìn)型接入網(wǎng)E-UTRAN。EPS系統(tǒng)僅存在分組交換域。

UE通過TD-LTE空中接口Uu接口和E-UTRAN系統(tǒng)能夠相連。

E-UTRAN僅由演進(jìn)型節(jié)點(diǎn)B（evolved Node B，eNB）組成，提供到UE的E-UTRA控制面與用戶面的協(xié)議終止點(diǎn)。eNB之間可以通過X2接口進(jìn)行連接，并且在需要通信的兩個(gè)不同eNodeB之間總是存在X2接口，如為了支持LTE_ACTIVE狀態(tài)下不同eNodeB之間的切換，源eNB與目標(biāo)eNodeB之間會(huì)存在X2接口。LTE接入網(wǎng)與核心網(wǎng)之間通過S1接口進(jìn)行連接，S1接口支持多對(duì)多連接方式。

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TD-LTE-Uu接口IOT測(cè)試方法-v0[1].pdf