測(cè)試方法一
1、假設(shè)基站已正常開工，各載頻均能打通電話；
2、將被測(cè)載頻板對(duì)應(yīng)的功放板HPA的SMA頭及對(duì)應(yīng)的合路器輸入口斷開，將功率計(jì)串入其中。
3、在基站遠(yuǎn)端維護(hù)臺(tái)閉塞被測(cè)載頻所在小區(qū)的BCCH載頻的TCH信道，僅開放BCCH、SDCCH信道及被測(cè)載頻板的二個(gè)TCH信道（用于打電話），關(guān)閉其他不相關(guān)的載頻板；
4、將兩個(gè)測(cè)試手機(jī)中的一個(gè)強(qiáng)制設(shè)置在被測(cè)載頻所在小區(qū)的BCCH上，撥打電話。在基站遠(yuǎn)端維護(hù)臺(tái)（或測(cè)試手機(jī)）上觀察信道占用情況，確認(rèn)已占用上被測(cè)載頻留下的二個(gè)信道（即信道狀態(tài)為A），同時(shí)注意觀察功率計(jì)的功率（平均功率）測(cè)試結(jié)果。假設(shè)在手機(jī)振鈴時(shí)，功率計(jì)的功率測(cè)試結(jié)果近似值為P測(cè)，則被測(cè)載頻功率P近似為：P=P測(cè)+測(cè)試電纜的損耗+6dB（即10lg[8TCH/2TCH]）。
注： 兩手機(jī)通話時(shí)，功率計(jì)的功率測(cè)試結(jié)果值會(huì)下降（因?yàn)榇嬖趧?dòng)態(tài)功率控制），該值隨手機(jī)的位置變化而變化。
測(cè)試方法二
1、假設(shè)基站已正常開工，各載頻均能打通電話；
2、將合路器的TESTOUT端口直接接到頻譜儀上。

3、在基站遠(yuǎn)端維護(hù)臺(tái)閉塞被測(cè)載頻所在小區(qū)的BCCH載頻的TCH信道，僅開放BCCH、SDCCH信道及被測(cè)載頻板的二個(gè)TCH信道（用于打電話），關(guān)閉其他不相關(guān)的載頻板；
4、開啟頻譜儀，將中心頻率設(shè)置在被測(cè)載頻所在頻點(diǎn)上，頻譜儀設(shè)置在功率模板測(cè)試狀態(tài)；將兩個(gè)測(cè)試手機(jī)中的一個(gè)強(qiáng)制設(shè)置在被測(cè)載頻所在小區(qū)的BCCH上，撥打電話，在基站遠(yuǎn)端維護(hù)臺(tái)（或測(cè)試手機(jī)）上觀察信道占用情況，確認(rèn)已占用上被測(cè)載頻留下的二個(gè)信道（即信道狀態(tài)為A），同時(shí)注意觀察頻譜儀的功率模板測(cè)試結(jié)果。假設(shè)在手機(jī)振鈴時(shí)，頻譜儀上被測(cè)頻點(diǎn)該時(shí)隙（需要設(shè)置在該時(shí)隙上）的功率測(cè)試結(jié)果值近似值為P測(cè)，則被測(cè)載頻功率P近似為：P=P測(cè)+測(cè)試電纜的損耗+40dB (合路器TESTOUT端口相對(duì)輸入口的衰減）。此方案要求頻譜儀必須有功率模板測(cè)試功能（如HP8595E）,由于頻譜儀體積較大，攜帶到各站點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試比較麻煩，開局現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際操作可能不方便。