是德科技最新在線、功能和邊界掃描測試解決方案參展 NEPCON China 2015

    導(dǎo)讀:

    是德科技旗下最新在線、功能和邊界掃描測試解決方案將參展于 4月21日至23日在上海世博展覽館舉行的第二十五屆中國國際電子生產(chǎn)設(shè)備暨微電子工業(yè)展(NEPCON)。

  OFweek通信網(wǎng)2015年4月20日訊 是德科技旗下最新在線、功能和邊界掃描測試解決方案將參展于 4 月 21 日至 23 日在上海世博展覽館舉行的第二十五屆中國國際電子生產(chǎn)設(shè)備暨微電子工業(yè)展(NEPCON)。NEPCON China是目前亞洲地區(qū)規(guī)模最大的SMT行業(yè)盛會(huì)之一,也是亞洲地區(qū)規(guī)模最大的國際性電子制造專業(yè)盛會(huì)之一。在本次展會(huì)期間,是德科技的技術(shù)專家和高級(jí)工程師將為您全方位的展示最新產(chǎn)品和解決方案:

  •i3070 系列 5 和系列 Series 5i 在線測試系統(tǒng)軟件版本 09.00p。09.00p 是一個(gè)重要版本:全新特性能夠提升電路板測試效率,新的測試計(jì)劃編輯器可以改善程序開發(fā)體驗(yàn)。展會(huì)期間,是德科技將提供親身體驗(yàn)環(huán)節(jié),以便參觀者感受新版軟件全新的界面和用戶體驗(yàn)。

  •M9188A PXI +30V/20mA 動(dòng)態(tài)數(shù)模轉(zhuǎn)換器。新模塊無需定制前端電路,具有出色的動(dòng)態(tài)范圍和精度,非常適合汽車、航空航天與國防以及工業(yè)測試應(yīng)用。

  •EDN 雜志評選的 2014 年最佳測試產(chǎn)品——通用 Keysight x1149 臺(tái)式邊界掃描分析儀。x1149 提供極高的測試周轉(zhuǎn)速度和廣泛的測試功能,全面覆蓋從設(shè)計(jì)與驗(yàn)證到新產(chǎn)品引進(jìn)與批量生產(chǎn)的整個(gè)流程。x1149 演示將包括智能手機(jī)測試應(yīng)用。

  •Keysight Mini ICT——通用解決方案,適合不同階段的產(chǎn)品測試應(yīng)用,包括功能測試與維修。Mini ICT 可以與廣泛的產(chǎn)品配合使用,以構(gòu)建不同尺寸的解決方案,包括是德科技墨西哥渠道合作伙伴 Interlatin 的盒式 ICT 解決方案以及 IPTE 的 19 英寸自動(dòng)在線測試平臺(tái)。

  歡迎蒞臨是德科技展位:上海世博展覽館1號(hào)館1G59


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