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2010年11月9日消息，光纖宏彎損耗測試，在國家標準GB/T9771.3-2008中描述：光纖以30mm半徑松繞100圈，在1625nm測得的宏彎損耗應(yīng)不超過0.1dB。
而注2中描述：為了保證彎曲損耗易于測量和測量準確度，可用1圈或幾圈小半徑環(huán)光纖代替100圈光纖進行試驗，在此情況下，繞的圈數(shù)環(huán)的半徑和最大允許的彎曲損耗都應(yīng)該選的與30mm半徑100圈試驗的損耗值相適應(yīng)。
大多光纖廠家都提供Φ60mm*100圈的判斷標準，然而，在日常的測試工作中，若要采用方便快捷的實驗方法，則傾向于按照注2中的建議去進行一些常規(guī)判斷。因此，掌握Φ32mm*1圈與Φ60mm*100圈的數(shù)據(jù)差異就十分有必要。
一、兩種宏彎損耗測試方法的比較
圖為 兩種宏彎損耗測試方法示意圖
用上述方法對10盤正常生產(chǎn)條件下的光纖樣品進行對比測試。
