3米法半電波暗室的建設(shè)及EMI測(cè)試技術(shù)實(shí)踐發(fā)布: 2010-10-21 00:13 | 作者: | 來(lái)源: | 字體: 小 中 大 摘要: 本文介紹了建設(shè)3米法半電波暗室應(yīng)注意的問題以及EMI實(shí)際測(cè)試技巧和特殊測(cè)試結(jié)果分析。 關(guān)鍵詞: EMC 電波暗室 EMI 測(cè)試技術(shù) 電磁兼容性(EMC)是近十幾年來(lái)發(fā)展起來(lái)的新的學(xué)科。隨著人們對(duì)它的重要性的認(rèn)識(shí)程度的不斷提高,世界上許多國(guó)家和地區(qū)已對(duì)它進(jìn)行了強(qiáng)制性認(rèn)證管理。例如美國(guó)按照FCC(聯(lián)邦通信委員會(huì))規(guī)程,歐共體按照89/336/EEC電磁兼容指令進(jìn)行電磁兼容認(rèn)證,未按照這些規(guī)程和指令進(jìn)行電磁兼容認(rèn)證和認(rèn)證不合格的產(chǎn)品不允許在這些國(guó)家和地區(qū)的市場(chǎng)上銷售和使用。我國(guó)原國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局也在1999年10月發(fā)布了包含電磁兼容認(rèn)證管理辦法的[1999]223號(hào)文件。為了配合我國(guó)電磁兼容認(rèn)證管理辦法的實(shí)施,一些檢測(cè)機(jī)構(gòu)和生產(chǎn)企業(yè)已引進(jìn)了EMC測(cè)試設(shè)備和建起了EMC測(cè)試用的半電波暗室,還有許多檢測(cè)機(jī)構(gòu)和生產(chǎn)企業(yè)正在進(jìn)行這方面的建設(shè)和計(jì)劃投資這方面的建設(shè)。 我中心在1999年10月自己開發(fā)建成了太極山莊電磁輻射發(fā)射開闊測(cè)試場(chǎng);從國(guó)外引進(jìn)了先進(jìn)的EMC測(cè)試設(shè)備;EMC測(cè)試用的新的3米法半電波暗室也于2000年3月份建成并投入使用。在3米法半電波暗室的建設(shè)和EMI(電磁騷擾)測(cè)試過程中,積累和總結(jié)了一些經(jīng)驗(yàn),供大家借鑒和參考。下面分別從3米法半電波暗室的建設(shè)和信息技術(shù)設(shè)備的EMI測(cè)試技術(shù)兩大方面進(jìn)行闡述。 一.3米法半電波暗室的建設(shè) 。ㄒ唬3米法半電波暗室建設(shè)涉及的幾個(gè)方面 一般的暗室在建造時(shí),都會(huì)涉及以下幾個(gè)方面: 1.電波暗室的尺寸。你應(yīng)該清楚你所要建造的暗室是標(biāo)準(zhǔn)10米法半電波暗室還是標(biāo)準(zhǔn)3米法半電波暗室或是根據(jù)你的場(chǎng)地要求定制尺寸的電波暗室;電波暗室是否要配套修建屏蔽的控制室及放大器室,它們各自的長(zhǎng)、寬、高尺寸是多少,它們建造在暗室的哪個(gè)方向。 2.屏蔽門的類型、尺寸和數(shù)量。屏蔽門分單刀、雙刀、三刀等不同類型,并有電動(dòng)、氣動(dòng)和手動(dòng)三種。你要根據(jù)你將來(lái)的被測(cè)設(shè)備和人員進(jìn)出方便程度以及屏蔽門的屏蔽性能、耐用性、可靠性、易維護(hù)性等多方面綜合考慮來(lái)選擇它們。 3.屏蔽板的類型和連接方式。由于各暗室制造廠商用來(lái)建造暗室的屏蔽板類型不同,屏蔽板之間的連接方式和工藝也不相同。為了保證好的接觸緊密性和電連續(xù)性,應(yīng)該注意對(duì)他們選用的屏蔽板及屏蔽板之間的連接方式進(jìn)行了解和比較。 4.屏蔽室屏蔽性能。應(yīng)該讓暗室制造廠商提供其電磁屏蔽室可以達(dá)到的具體的屏蔽性能指標(biāo)(給出具體數(shù)值),其中應(yīng)該包括不同頻率段(從低頻段到高頻段)對(duì)磁場(chǎng)、電場(chǎng)、平面波、微波的屏蔽性能指標(biāo)。 5.吸波材料。注意暗室制造廠商所采用的吸波材料的生產(chǎn)廠家和型號(hào)(包括鐵氧體吸波材料和尖劈吸波材料);注意吸波材料的組成結(jié)構(gòu)及它的抗高溫、高濕性能和阻燃性能;了解其長(zhǎng)期使用是否易變形以及各種吸波材料在不同頻帶內(nèi)的吸波性能,了解它們?cè)诎凳抑械匿佋O(shè)方式和鋪設(shè)位置及作用。 6.電源線和信號(hào)線濾波器?紤]好暗室將來(lái)要使用的電源類型和它們的最大功率,如測(cè)試設(shè)備、受試設(shè)備和輔助設(shè)備以及照明系統(tǒng)等是否要使用380V、220V、110V交流電壓,是否有需要直流供電的測(cè)試和受試設(shè)備,它們的數(shù)量是多少,是否有特殊的測(cè)試設(shè)備和輔助設(shè)備需要特殊的濾波器等,這些都需要考慮周全,以便供應(yīng)商提前準(zhǔn)備好這些電源線和信號(hào)線濾波器。 7.信導(dǎo)板和波導(dǎo)通風(fēng)窗。暗室內(nèi)需要安裝波導(dǎo)通風(fēng)窗與排氣扇或空調(diào)系統(tǒng)進(jìn)行連接。注意波導(dǎo)通風(fēng)窗的頻段設(shè)計(jì),其屏蔽性能要符合屏蔽室的屏蔽性能。信導(dǎo)板用來(lái)安裝不能直接通過屏蔽墻體進(jìn)行安裝的端子或信號(hào)接口;信導(dǎo)板的安裝數(shù)量、位置以及其上的端子的數(shù)量和類型要和測(cè)試設(shè)備供應(yīng)廠商一起進(jìn)行商討來(lái)決定。 8.火情報(bào)警裝置和照明設(shè)施。注意選擇不會(huì)產(chǎn)生任何無(wú)線電干擾的照明設(shè)施;火情報(bào)警裝置的安裝應(yīng)該不會(huì)影響暗室的性能。 9.暗室內(nèi)的自動(dòng)化裝置。暗室內(nèi)的自動(dòng)化裝置包括天線升降塔、轉(zhuǎn)臺(tái)和監(jiān)測(cè)系統(tǒng)及可對(duì)它們進(jìn)行控制的控制器。天線升降塔的選擇要考慮生產(chǎn)廠家、型號(hào)及是否有安裝天線的適配器,是否受到測(cè)試設(shè)備的支持(即與它相連接的測(cè)試設(shè)備的測(cè)試軟件是否有支持它的驅(qū)動(dòng)程序);轉(zhuǎn)臺(tái)同樣應(yīng)該受到測(cè)試設(shè)備的支持并根據(jù)受試設(shè)備的大小來(lái)確定轉(zhuǎn)臺(tái)的尺寸及承載能力,同時(shí)要考慮轉(zhuǎn)臺(tái)的旋轉(zhuǎn)角度和定位精度;監(jiān)控系統(tǒng)包括安裝在暗室中的攝像機(jī)和安放在控制室內(nèi)的監(jiān)視器,可根據(jù)實(shí)際使用情況來(lái)選擇攝像機(jī)和監(jiān)視器的數(shù)量,攝象機(jī)要選擇可在寬的頻率范圍和高的場(chǎng)強(qiáng)下正常工作且不會(huì)產(chǎn)生射頻干擾信號(hào)的機(jī)種,并將其安裝在無(wú)飯射區(qū)域。 10.暗室的性能測(cè)試和保修培訓(xùn)。由于暗室不僅適用于EMC中的EMI測(cè)試,還可用于EMS中的輻射抗擾度測(cè)試。因此,暗室的性能檢測(cè)要包括暗室屏蔽體建成后的屏蔽性能測(cè)試和暗室全部建造完成后的場(chǎng)地衰減測(cè)試和場(chǎng)均勻測(cè)試。這些測(cè)試要根據(jù)合同要求和國(guó)際上暗室建造驗(yàn)收的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)進(jìn)行。要選擇有知名度的和經(jīng)過權(quán)威機(jī)構(gòu)認(rèn)可的測(cè)試機(jī)構(gòu)。暗室的保修和配套設(shè)備、部件的保修以及培訓(xùn)要寫進(jìn)合同中去。 (二)信息技術(shù)設(shè)備測(cè)試用暗室需增加的功能 根據(jù)測(cè)試信息類設(shè)備的需求,需要在一般暗室所具有功能的基礎(chǔ)上增加一些信息類設(shè)備專用接口。這些接口包括:標(biāo)準(zhǔn)顯示器接口、并行打印接口、RS232串行通信接口、USB接口、PS/2接口、視頻音頻接口、IEEE488并行接口等。增加了這些接口,以后對(duì)這些接口設(shè)備進(jìn)行單獨(dú)測(cè)試就很方便,為區(qū)分和分析騷擾源以及隔離其他設(shè)備的影響提供了很好的途徑。 各暗室建造廠商對(duì)信息設(shè)備測(cè)試接口的處理方法各有不同。我中心3米法暗室建造廠商采取了提供一條從控制室到暗室轉(zhuǎn)臺(tái)的屏蔽通道的方法。它的功能是這樣實(shí)現(xiàn)的:將上述接口線通通穿入屏蔽通道內(nèi),接口線的兩頭安裝上接口插頭或插座,一頭與暗室中的被測(cè)設(shè)備相連,一頭與控制室內(nèi)的輔助連接設(shè)備相連。在控制室的屏蔽通道端口充滿銅/鐵絲綿以防可能進(jìn)暗室的電磁干擾。如果接口連線有屏蔽外皮,屏蔽外皮可以聯(lián)結(jié)到端口的屏蔽線接地端子上,這樣就完全避免了對(duì)暗室的干擾。這樣,可能帶進(jìn)的傳導(dǎo)干擾十分微弱,不足以影響測(cè)試結(jié)果。當(dāng)不需要進(jìn)行此類測(cè)試時(shí),可以將控制室這端的接口線放進(jìn)屏蔽通道,屏蔽通道端口用附帶的蓋子蓋上即可。它還為未來(lái)的可能變化和接口的可擴(kuò)展性提供了方便性和靈活性。 另外一些暗室建造廠商采取一個(gè)被稱為“銅顆粒床”的RFI Trap。這種又稱為無(wú)線電干擾Trap的設(shè)備是在它的內(nèi)部充滿1-2mm大小的銅顆粒(RFI Trap就象一個(gè)對(duì)屏蔽線纜的多端套筒)。這樣,銅顆粒就形成了一個(gè)在金屬外殼內(nèi)的裸露的屏蔽線纜的射頻屏蔽接觸。使用Trap可使許多線纜通過而不用將電纜割開,就如同許多電纜在一個(gè)同軸電纜中通過。電纜外部的屏蔽層必須被剝開,使得屏蔽線纜被包裹的部分暴露出來(lái)。RFI Trap可灌入和清空。RFI Trap可裝在屏蔽板上,也可取下用一塊百葉窗似的接口板替換它的位置。 。ㄈ┌凳医ㄔ爝^程中需注意的問題 建造暗室是一個(gè)大的工程,需花費(fèi)很大一筆經(jīng)費(fèi),許多技術(shù)細(xì)節(jié)需要考慮,稍有不周,將帶來(lái)人力、財(cái)力、物力上的損失,為今后的工作留下許多后患。根據(jù)我中心3米法半電波暗室的建造經(jīng)驗(yàn),需要在如下幾個(gè)方面加以注意: 1.技術(shù)標(biāo)書的對(duì)比 合同簽訂前,要多找?guī)讉(gè)暗室建造廠商,對(duì)它們的技術(shù)標(biāo)書進(jìn)行仔細(xì)的對(duì)比,分別與他們就技術(shù)標(biāo)書的內(nèi)容進(jìn)行細(xì)致的探討和詢問,對(duì)標(biāo)書中的細(xì)節(jié)了解的越清楚越好。 2.了解暗室建造廠商的實(shí)力 了解暗室建造廠商的背景和技術(shù)實(shí)力,讓他們提供國(guó)內(nèi)、國(guó)外暗室建造的實(shí)例,最好能到他們建好的同類暗室去實(shí)地進(jìn)行考察。 3.與提供測(cè)試設(shè)備的生產(chǎn)廠商的協(xié)調(diào)與配合 將來(lái)暗室中采用的測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠家的確定,最好能在簽訂暗室建造合同之后。因?yàn)闇y(cè)試設(shè)備與暗室的設(shè)備有許多需要聯(lián)結(jié)的地方,測(cè)試設(shè)備相關(guān)線纜的長(zhǎng)短和輔助設(shè)備的擺放,信號(hào)導(dǎo)板上聯(lián)結(jié)端子的數(shù)量和類型等都和暗室的設(shè)計(jì)密切相關(guān)。因此,暗室建造過程中一定要找齊測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠家一起討論相關(guān)技術(shù)和確定連接細(xì)節(jié),協(xié)調(diào)好他們之間的關(guān)系,明確各自的責(zé)任。 4.施工人員的經(jīng)驗(yàn)和素質(zhì) 現(xiàn)場(chǎng)施工人員的經(jīng)驗(yàn)和素質(zhì)也非常重要,經(jīng)過培訓(xùn)的高素質(zhì)的施工人員是建好暗室的重要保證。在每一階段的施工過程中,要多注意查看屏蔽體連接處連接的緊密性和電氣連接性,注意查看濾波器、屏蔽通道及信導(dǎo)板螺釘?shù)木o固程度,這些都將影響暗室屏蔽腔體建好后屏蔽性能的好壞。粘貼鐵氧體瓦時(shí)要注意保持屏蔽腔體的溫度,注意檢查粘貼鐵氧體瓦用的膠是否刷的足夠和均勻,防止將來(lái)鐵氧體瓦片從屏蔽腔體上脫落,造成人身傷害。 5.防火、防水及安全處理措施 暗室與安裝暗室的建筑場(chǎng)地有絕緣層。因此千萬(wàn)要注意防水,否則絕緣層將被破壞。同時(shí)還要做好防火處理。為預(yù)防以外,防患于未然,最好與暗室廠協(xié)商,在暗室天花板上拉一個(gè)安全防護(hù)網(wǎng),防止鐵氧體瓦掉下,傷害人員和設(shè)施。 6.最后的驗(yàn)收工作 暗室建造完成后,要注意督促暗室廠商與測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠家一起完成測(cè)試設(shè)備與暗室設(shè)備的安裝調(diào)試工作,使整個(gè)系統(tǒng)能夠正常工作。要進(jìn)行背景噪聲的測(cè)試,滿足合同的要求。要向暗室廠商索要暗室相關(guān)設(shè)備的使用說(shuō)明書和相關(guān)設(shè)備、電源插座等的安裝布置圖(因它們大部分都安裝在高架地板之下),作為將來(lái)查找和檢修的依據(jù)。同時(shí)還應(yīng)讓暗室廠商多留些易損備件,讓他們提供足夠快的維修服務(wù)響應(yīng)。 二.信息技術(shù)設(shè)備EMI測(cè)試技術(shù)實(shí)踐 信息技術(shù)設(shè)備的EMI(電磁騷擾)測(cè)試包括兩個(gè)方面:輻射騷擾和傳導(dǎo)騷擾測(cè)試。輻射騷擾是在空間傳播而傳導(dǎo)騷擾則通過電源線向公共電網(wǎng)中傳播。我國(guó)現(xiàn)行信息技術(shù)設(shè)備無(wú)線電騷擾測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是GB9254-1998,該標(biāo)準(zhǔn)等同采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)CISPR 22,與歐洲標(biāo)準(zhǔn)EN 55022相同。 我中心在3米法半電波暗室中用于EMI測(cè)試的系統(tǒng)是德國(guó)羅德與施瓦茨(R/S)公司的產(chǎn)品,其中重要的全兼容性測(cè)試用接收機(jī)型號(hào)是ESI 26。該接收機(jī)頻率測(cè)量范圍從20Hz到26.5GHz,是包含接收機(jī)、計(jì)算機(jī)、頻譜分析儀三種功能于一身的機(jī)種。 羅德與施瓦茨公司是世界最大的著名無(wú)線電干擾測(cè)試用接收機(jī)生產(chǎn)廠商,在EMC測(cè)試設(shè)備制造方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn)。測(cè)試系統(tǒng)軟件是系統(tǒng)的靈魂,羅德與施瓦茨公司提供的與測(cè)試接收機(jī)ESI 26配套的測(cè)試軟件ES-K1編寫的非常成功。該測(cè)試系統(tǒng)軟件為EMI測(cè)試提供了一個(gè)全自動(dòng)基礎(chǔ)上的解決方案,各個(gè)功能模塊相互配合組成整體又各自獨(dú)立,自動(dòng)化程度和靈活應(yīng)用程度都非常高,用戶界面也編寫的非常好,使用起來(lái)很方便同時(shí)也很直觀、很舒適。 近一年來(lái),通過用ESI 26測(cè)試系統(tǒng)對(duì)微型計(jì)算機(jī)等大量信息技術(shù)設(shè)備所進(jìn)行的測(cè)試和對(duì)ES-K1軟件的不斷摸索、實(shí)踐,總結(jié)了一些測(cè)試經(jīng)驗(yàn),共同行們參考和共同探討。 。ㄒ唬┯肊S-K1軟件進(jìn)行全自動(dòng)測(cè)試的幾個(gè)重要步驟 在用ESI 26測(cè)試系統(tǒng)軟件ES-K1進(jìn)行全自動(dòng)輻射騷擾測(cè)試時(shí),要注意幾個(gè)重要步驟:首先確認(rèn)系統(tǒng)控制用計(jì)算機(jī)對(duì)ESI 26接收機(jī)、轉(zhuǎn)臺(tái)、天線升降塔的控制正常,然后根據(jù)測(cè)試需求,對(duì)ES-K1程序中File菜單下的Navigate項(xiàng)的“Script Parameter”參數(shù)進(jìn)行正確設(shè)置,其中包括其下各個(gè)子參數(shù)項(xiàng)的正確設(shè)置;其子參數(shù)項(xiàng)中的“Preview”和“Final”參數(shù)表中一定要填上正確的“Scan Table”(掃描表)名稱,“DataReduction”(數(shù)據(jù)精簡(jiǎn))參數(shù)是影響測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性和測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)短的重要的參數(shù)項(xiàng),應(yīng)根據(jù)測(cè)試要求正確編寫;再一個(gè)就是進(jìn)入Navigate項(xiàng)下的“Scan Table”參數(shù)表編輯器“Scan Editor”,對(duì)“Scan Table”進(jìn)行正確的編寫,編寫完成后起名存盤,一般相同的測(cè)試編寫一次即可;若其中參數(shù)編寫不正確,測(cè)試將不能夠進(jìn)行。 。ǘ 正確理解“DataReduction”參數(shù),對(duì)測(cè)試曲線進(jìn)行分析 在ES-K1測(cè)試軟件中,“DataReduction”參數(shù)是一個(gè)不太好理解的參數(shù),但是它又是一個(gè)非常重要的參數(shù),它其中許多項(xiàng)目的數(shù)值設(shè)定與檢測(cè)時(shí)間和檢測(cè)結(jié)果密切相關(guān),只有深刻理解了它每個(gè)項(xiàng)目的內(nèi)涵并進(jìn)行正確的設(shè)置,才會(huì)取得事半功倍的效果。這里我不展開來(lái)談,僅用幾個(gè)輻射騷擾實(shí)際測(cè)試的例子進(jìn)行說(shuō)明。圖1、圖2是在“DataReduction”參數(shù)的“06”、“07”項(xiàng)數(shù)值分別設(shè)置成“6”時(shí)的實(shí)測(cè)曲線圖,從圖上很容易根據(jù)準(zhǔn)峰值點(diǎn)偏離限制限的數(shù)據(jù)進(jìn)行判斷,圖1為合格曲線,圖2為不和格曲線,一次就可進(jìn)行判斷。圖3、圖4是在“DataReduction”參數(shù)設(shè)置與上面相同時(shí)測(cè)得的曲線。由于被測(cè)設(shè)備(計(jì)算機(jī)系統(tǒng))產(chǎn)生的騷擾類型千差萬(wàn)別,從圖3、圖4測(cè)試曲線可以看出,雖然ES-K1測(cè)試軟件自動(dòng)測(cè)試給出的結(jié)果(部分準(zhǔn)峰值數(shù)值)是合格,但許多峰值卻超標(biāo),并且許多超標(biāo)的峰值沒有進(jìn)行準(zhǔn)峰值測(cè)試,這種情況下就不能輕易下結(jié)論,需要重新設(shè)置“DataReduction”參數(shù)“06”、“07”項(xiàng)的數(shù)值,將“06”項(xiàng)數(shù)值從“6”改成“15”或更大,將“07”項(xiàng)數(shù)值從“6”改成“3”或更;測(cè)試頻率范圍也要項(xiàng)相應(yīng)縮小,從原來(lái)的30MHz~1GHz,改成30MHz~40MHz(圖4情況下)或300MHz~1GHz(圖3情況下),將難以判斷的頻率段范圍做更精更細(xì)的再測(cè)量;如果有必要可對(duì)不能確定頻率點(diǎn)的騷擾進(jìn)行手動(dòng)測(cè)量,最后綜合加以判斷。 。ㄈ┳⒁鈱ふ冶粶y(cè)設(shè)備最大發(fā)射 在進(jìn)行EMI輻射騷擾測(cè)試時(shí),應(yīng)該注意尋找被測(cè)系統(tǒng)的最大發(fā)射。如計(jì)算機(jī)系統(tǒng)在被測(cè)試時(shí),應(yīng)將組成系統(tǒng)的配套顯示器的亮度、對(duì)比度調(diào)到最大,還要改變顯示分辨率和刷新頻率分別進(jìn)行測(cè)試。對(duì)于計(jì)算機(jī)的外部接口如COM口及并行打印口等要連接上MODEM和打印機(jī)一起組成被測(cè)系統(tǒng);要運(yùn)行專用的EMI檢測(cè)程序,在顯示器上顯示黑地白字的滿屏“H”字符,同時(shí)打印機(jī)將“H”字符打印到打印紙上。對(duì)于輻射騷擾值不穩(wěn)定的頻率點(diǎn),ES-K1測(cè)試軟件具有單點(diǎn)測(cè)試功能,可對(duì)騷擾幅值上下波動(dòng)的頻率點(diǎn)進(jìn)行任意次重復(fù)測(cè)試,并自動(dòng)保持最大幅值。這里要注意的是與被測(cè)計(jì)算機(jī)組成被測(cè)系統(tǒng)的MODEM及打印機(jī)要選擇低輻射發(fā)射的,要進(jìn)行測(cè)試篩選,它們的騷擾值最好要低于所采用標(biāo)準(zhǔn)限值限6dB。 (四)受試設(shè)備的擺放 EUT(被測(cè)設(shè)備)及輔助設(shè)備靜態(tài)時(shí)的擺放,GB9254-1998標(biāo)準(zhǔn)中有詳細(xì)的圖示和說(shuō)明,一般使它們正面的最外邊界到天線的位置為3米。但轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)起來(lái)后被測(cè)系統(tǒng)對(duì)于接收天線的距離將發(fā)生變化;對(duì)于這種變化,標(biāo)準(zhǔn)上沒有描述的字段,被測(cè)設(shè)備送檢方往往對(duì)此提出疑義。我們通過實(shí)際測(cè)試比較,發(fā)現(xiàn)這種小距離的差異對(duì)測(cè)試接果影響很小,被測(cè)設(shè)備對(duì)天線的方位變化對(duì)檢測(cè)結(jié)果影響較大。 。ㄎ澹┍尘霸肼暫蜏y(cè)試軟件密碼的修改 我中心暗室30MHz~1GHz背景躁聲比GB9254-1998 B級(jí)限值限低20dB,但如果在全自動(dòng)測(cè)試時(shí),錯(cuò)誤地修改了“Scan Table”參數(shù)表中“Attenuation/Gain"項(xiàng)目的內(nèi)容,將會(huì)使此頻段的背景躁聲提高10dB,因此要注意正確地設(shè)置此項(xiàng)內(nèi)容。另外,ES-K1軟件要求為測(cè)試程序設(shè)置密碼,密碼分為操作員密碼和管理員密碼。操作員不允許更改系統(tǒng)設(shè)置,只能進(jìn)行測(cè)試,而系統(tǒng)管理員即可更改測(cè)試系統(tǒng)設(shè)置也可進(jìn)行測(cè)試。因此要注意分級(jí)管理,一旦測(cè)試系統(tǒng)設(shè)置好后,不要隨便更改。密碼要牢記,萬(wàn)一密碼忘記,將不能進(jìn)入測(cè)試系統(tǒng)。這里給出密碼忘記后,對(duì)原密碼進(jìn)行清除,重新設(shè)置密碼的方法: 編輯ES-K1軟件安裝目錄下的EXECUTE子目錄下的ES-K1.INI文件,執(zhí)行步驟如下: 1.將"RuSSysMgr= 0"改成"REM RuSSysMgr=0"; 2.將語(yǔ)句 "RuSSysMgr=1"插入ES-K1.INI文件中; 3. 存盤退出ES-K1.INI文件,以用戶名“R&S"和口令“$System$ "的系統(tǒng)管理員身份進(jìn)入ES-K1測(cè)試軟件; 4.刪除用戶列表中原系統(tǒng)管理員密碼; 5.退出ES-K1測(cè)試軟件,重新進(jìn)入ES-K1。INI文件; 6.將“REM RuSSysMgr=0"改成"RuSSysMgr= 0"; 7.存盤退出ES-K1。INI文件,再次進(jìn)入ES-K1測(cè)試軟件時(shí),即可重新設(shè)置密碼。 三.結(jié)束語(yǔ) 總之,3米法半電波暗室和EMI測(cè)試技術(shù)是EMC測(cè)試中很重要的部分,它們即相互獨(dú)立又相互關(guān)聯(lián)。高標(biāo)準(zhǔn)高質(zhì)量的檢測(cè)環(huán)境(3米法電波暗室)和檢測(cè)人員豐富的EMI檢測(cè)經(jīng)驗(yàn),是提高EMC檢測(cè)質(zhì)量的重要因素。以上是我個(gè)人的一些經(jīng)驗(yàn)和體會(huì),更多細(xì)節(jié)還需要在今后的實(shí)踐中不斷認(rèn)識(shí)、摸索和總結(jié),希望文中內(nèi)容能對(duì)大家有所幫助。
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