測(cè)試室內(nèi)光纜鏈路損耗的新方法

　　測(cè)試室內(nèi)光纜鏈路需要嚴(yán)格的方法來(lái)獲得精確的、有效的結(jié)果。ANSI/TIA/EIA-526-14A 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了多模光纜鏈路的損耗測(cè)試。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了兩個(gè)測(cè)試的方法。方 法A 和方法B。本文介紹方法A 和方法B 并且說(shuō)明為什么方法B 是測(cè)試室內(nèi)光纜鏈路更好的方法。

　　本文還建議了一種新的B 方法改進(jìn)的方案以克服方法B 的一些不足之處。這種新方法是首選的測(cè)試方法，因?yàn)槠錅y(cè)試結(jié)果保持了和方法B 的一致性，并且給用戶提供了更多的靈活性，從而可以測(cè)試由各種不同的，包括SFF(微型插頭)在內(nèi)的光纜連接器所構(gòu)成的光纜鏈路。本文還詳細(xì)說(shuō)明了改進(jìn)的B 方法所具有的測(cè)試方法簡(jiǎn)單，減少可能的錯(cuò)誤等優(yōu)點(diǎn)。

方法A

　　方法A 是用來(lái)測(cè)試這種光纜鏈路，其全部的衰減主要是由光纜本身造成的，而不包括連接器的損耗。這通常是電信部門(mén)的網(wǎng)絡(luò)情況。方法A 使用兩條用戶連接光纜和一個(gè)連接適配器連接至被測(cè)的光纜鏈路(參見(jiàn)圖1)。兩條連接光纜和一個(gè)連接適配器作為參考值在測(cè)試中排除出去。測(cè)試結(jié)果包括了被測(cè)光纜鏈路的損耗以及一個(gè)連接器的損耗(注意圖2 中的藍(lán)色部分)。


圖1、雙向測(cè)試儀對(duì)兩條光纜鏈路同時(shí)測(cè)試的參考設(shè)置


圖 2、雙向光纜測(cè)試儀的測(cè)試設(shè)置

　　這種方法一直是電信部門(mén)測(cè)試長(zhǎng)距離光纜鏈路的有效的方法，而對(duì)室內(nèi)光纜鏈路測(cè)試來(lái)說(shuō)其精度不足。因?yàn)榫W(wǎng)絡(luò)實(shí)際工作在有損耗的光纜以及兩端的連接器。方法A 在測(cè)試光功率損耗時(shí)打了折扣，因?yàn)樗�只包括了一個(gè)連接頭。對(duì)長(zhǎng)距離光纜鏈路來(lái)說(shuō)，這不是問(wèn)題，因?yàn)閾p耗的主要貢獻(xiàn)是光纜本身而不是連接器。然而對(duì)室內(nèi)的應(yīng)用來(lái)說(shuō)，光纜的長(zhǎng)度非常短，其本身的損耗是非常小的。損耗的主要問(wèn)題是光纜鏈路兩端的連接器。光纜鏈路的損耗測(cè)試隨著應(yīng)用的要求越來(lái)越嚴(yán)格，例如千兆以太網(wǎng)要求測(cè)試整個(gè)鏈路的損耗。這就是為什么重新的方法B。

方法B

　　方法B 是用來(lái)測(cè)試光纜鏈路，其連接器的損耗是整個(gè)損耗的重要部分。這就是室內(nèi)光纜的例子。方法B 的參考設(shè)置步驟使用一條連接光纜測(cè)試每條光纜鏈路(參見(jiàn)圖3)。(說(shuō)明：該圖是一個(gè)雙向測(cè)試儀同時(shí)測(cè)試兩條光纜的情況)。


圖 3、方法B 的參考設(shè)置


圖 4、方法B 的測(cè)試設(shè)置

　　因?yàn)橹挥幸粭l連接光纜(每個(gè)鏈路)作為參考部分，測(cè)試結(jié)果包括被測(cè)光纜本身的損耗以及兩端的連接器(參見(jiàn)圖4 的藍(lán)色部分)。從技術(shù)角度講，它還包括了額外的連接光纜的損耗，但是其長(zhǎng)度非常短，損耗可以忽略不計(jì)。對(duì)室內(nèi)光纜網(wǎng)絡(luò)，這種方法提供了精確的光纜鏈路測(cè)試，因?yàn)樗�包括了光纜本身以及電纜兩端的連接器。

然而，當(dāng)使用方法B 時(shí)，要知道其不足之處：

　　1、當(dāng)從參考設(shè)置轉(zhuǎn)換至測(cè)試設(shè)置時(shí)，需要將測(cè)試儀一端的連接光纜斷開(kāi)。非常重要的是千萬(wàn)不要斷開(kāi)輸出或光源一端。如果斷開(kāi)該連接，原來(lái)設(shè)置的參考值就丟失了，不重新進(jìn)行參考設(shè)置就會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)試的結(jié)果。不幸的是，經(jīng)常有人輕易地?cái)嚅_(kāi)源(輸出)端而不是斷開(kāi)測(cè)試(輸入)端。

　　2、雖然必須從測(cè)試儀測(cè)試(輸入)端斷開(kāi)連接電纜，仍然需要非常小心，避免接頭出受到污染或檢測(cè)器受到損壞。

　　3、為了測(cè)試發(fā)送和接收在同一連接器的SFF 連接器，你必須從源(輸出)端斷開(kāi)，從而違反了正確的參考和測(cè)試步驟。

　　4、使用方法B 要求你的測(cè)試儀連接器必須和被測(cè)光纜的連接器相同。

　　下面要介紹的是一種新的測(cè)試方法，它是模式B 的改進(jìn)，但是它不僅提供了同樣的結(jié)果而且保證了和測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的一致性，同時(shí)克服了上面列出的各種不足。

改進(jìn)的方法B

　　方法B 的簡(jiǎn)單改進(jìn)使得我們能夠保持原來(lái)的精度(每次測(cè)量都包括光纜以及兩端的接頭)但是避免了主要的缺陷。這種改進(jìn)方法的參考步驟是使用兩條連接光纜和一個(gè)連接適配器對(duì)每條被測(cè)光纜完成的(參見(jiàn)圖5)。然而，測(cè)試的步驟是新的，參見(jiàn)圖6 的說(shuō)明。

　　測(cè)試步驟包括了額外的帶連接器的一小短測(cè)試跳線，這樣測(cè)試的結(jié)果和方法B 獲得的結(jié)果將不一樣。就象方法B 一樣，結(jié)果包括光纜損壞以及兩端的連接器(注意圖6 的藍(lán)色部分)。兩條連接光纜以及每條鏈路的連接器從參考設(shè)置中排除出去。

保持測(cè)試的一致性

　　改進(jìn)的方法B 比原來(lái)的方法B 提供了幾個(gè)關(guān)鍵的好處，并且保持了其一致性：

　　1、改進(jìn)的方法B 所得到的損壞測(cè)量結(jié)果和ANSI/TIA/EIA-526-14A 中的方法B 是一 致的。根據(jù)方法B，可以正確地測(cè)量鏈路的損壞，測(cè)試的路徑比設(shè)置參考路徑時(shí)必須有額外的兩個(gè)適配器。本文所描述的測(cè)試步驟剛好符合這種要求。使用這種方法測(cè)量的損壞將是鏈路中光纜的損耗以及鏈路兩端連接器的損耗。該損耗值正好是網(wǎng)絡(luò)實(shí)際硬件應(yīng)用中所遇到的值。


圖 5、改進(jìn)方法B 的參考設(shè)置


圖 6、改進(jìn)方法B 測(cè)試設(shè)置

　　2、改進(jìn)方法B 使得可以使用不同類(lèi)型的連接光纜連接測(cè)試儀和被測(cè)光纜鏈路。這就可以對(duì)使用不同類(lèi)型的連接器所組成的光纜鏈路進(jìn)行一致的測(cè)試，包括那些使用微型連接器(SFF)的光纜鏈路。

　　改進(jìn)的方法B 使得不需要在測(cè)試儀器端斷開(kāi)連接光纜，從而減少了可能由于重新插入所導(dǎo)致的污染誤差或損壞測(cè)試儀器的光接口。

解決了測(cè)試SFF 連接器的復(fù)雜性

　　單一的光源和光功率表可以有效地測(cè)試包含單一光纜的光纜鏈路，而使用單一電纜測(cè)試儀測(cè)試雙光纜鏈路比較笨拙且容易出錯(cuò)。雙光纜測(cè)試儀是測(cè)試雙連接器最佳的方法，所以是測(cè)試SFF 所推薦的方法。因?yàn)楣饫|鏈路測(cè)試的需求持續(xù)增長(zhǎng)，新安裝的室內(nèi)光纜需要新的測(cè)試儀。而方法B 是首選的方法，并且在ANSI/TIA/EIA-568-A 標(biāo)準(zhǔn)中進(jìn)行了規(guī)定。而使用額外的測(cè)試跳線的改進(jìn)方法也是首選的，因?yàn)樗�提供了和方法B 一致的測(cè)試結(jié)果，而又提供了更大的靈活性來(lái)測(cè)試不同連接器的光纜鏈路。