測試室內(nèi)光纜鏈路損耗的新方法

　　測試室內(nèi)光纜鏈路需要嚴(yán)格的方法來獲得精確的、有效的結(jié)果。ANSI/TIA/EIA-526-14A 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了多模光纜鏈路的損耗測試。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了兩個(gè)測試的方法。方 法A 和方法B。本文介紹方法A 和方法B 并且說明為什么方法B 是測試室內(nèi)光纜鏈路更好的方法。

　　本文還建議了一種新的B 方法改進(jìn)的方案以克服方法B 的一些不足之處。這種新方法是首選的測試方法，因?yàn)槠錅y試結(jié)果保持了和方法B 的一致性，并且給用戶提供了更多的靈活性，從而可以測試由各種不同的，包括SFF(微型插頭)在內(nèi)的光纜連接器所構(gòu)成的光纜鏈路。本文還詳細(xì)說明了改進(jìn)的B 方法所具有的測試方法簡單，減少可能的錯(cuò)誤等優(yōu)點(diǎn)。

方法A

　　方法A 是用來測試這種光纜鏈路，其全部的衰減主要是由光纜本身造成的，而不包括連接器的損耗。這通常是電信部門的網(wǎng)絡(luò)情況。方法A 使用兩條用戶連接光纜和一個(gè)連接適配器連接至被測的光纜鏈路(參見圖1)。兩條連接光纜和一個(gè)連接適配器作為參考值在測試中排除出去。測試結(jié)果包括了被測光纜鏈路的損耗以及一個(gè)連接器的損耗(注意圖2 中的藍(lán)色部分)。


圖1、雙向測試儀對兩條光纜鏈路同時(shí)測試的參考設(shè)置


圖 2、雙向光纜測試儀的測試設(shè)置

　　這種方法一直是電信部門測試長距離光纜鏈路的有效的方法，而對室內(nèi)光纜鏈路測試來說其精度不足。因?yàn)榫W(wǎng)絡(luò)實(shí)際工作在有損耗的光纜以及兩端的連接器。方法A 在測試光功率損耗時(shí)打了折扣，因?yàn)樗�只包括了一個(gè)連接頭。對長距離光纜鏈路來說，這不是問題，因?yàn)閾p耗的主要貢獻(xiàn)是光纜本身而不是連接器。然而對室內(nèi)的應(yīng)用來說，光纜的長度非常短，其本身的損耗是非常小的。損耗的主要問題是光纜鏈路兩端的連接器。光纜鏈路的損耗測試隨著應(yīng)用的要求越來越嚴(yán)格，例如千兆以太網(wǎng)要求測試整個(gè)鏈路的損耗。這就是為什么重新的方法B。

方法B

　　方法B 是用來測試光纜鏈路，其連接器的損耗是整個(gè)損耗的重要部分。這就是室內(nèi)光纜的例子。方法B 的參考設(shè)置步驟使用一條連接光纜測試每條光纜鏈路(參見圖3)。(說明：該圖是一個(gè)雙向測試儀同時(shí)測試兩條光纜的情況)。


圖 3、方法B 的參考設(shè)置


圖 4、方法B 的測試設(shè)置

　　因?yàn)橹挥幸粭l連接光纜(每個(gè)鏈路)作為參考部分，測試結(jié)果包括被測光纜本身的損耗以及兩端的連接器(參見圖4 的藍(lán)色部分)。從技術(shù)角度講，它還包括了額外的連接光纜的損耗，但是其長度非常短，損耗可以忽略不計(jì)。對室內(nèi)光纜網(wǎng)絡(luò)，這種方法提供了精確的光纜鏈路測試，因?yàn)樗�包括了光纜本身以及電纜兩端的連接器。

然而，當(dāng)使用方法B 時(shí)，要知道其不足之處：

　　1、當(dāng)從參考設(shè)置轉(zhuǎn)換至測試設(shè)置時(shí)，需要將測試儀一端的連接光纜斷開。非常重要的是千萬不要斷開輸出或光源一端。如果斷開該連接，原來設(shè)置的參考值就丟失了，不重新進(jìn)行參考設(shè)置就會(huì)嚴(yán)重影響測試的結(jié)果。不幸的是，經(jīng)常有人輕易地?cái)嚅_源(輸出)端而不是斷開測試(輸入)端。

　　2、雖然必須從測試儀測試(輸入)端斷開連接電纜，仍然需要非常小心，避免接頭出受到污染或檢測器受到損壞。

　　3、為了測試發(fā)送和接收在同一連接器的SFF 連接器，你必須從源(輸出)端斷開，從而違反了正確的參考和測試步驟。

　　4、使用方法B 要求你的測試儀連接器必須和被測光纜的連接器相同。

　　下面要介紹的是一種新的測試方法，它是模式B 的改進(jìn)，但是它不僅提供了同樣的結(jié)果而且保證了和測試標(biāo)準(zhǔn)的一致性，同時(shí)克服了上面列出的各種不足。

改進(jìn)的方法B

　　方法B 的簡單改進(jìn)使得我們能夠保持原來的精度(每次測量都包括光纜以及兩端的接頭)但是避免了主要的缺陷。這種改進(jìn)方法的參考步驟是使用兩條連接光纜和一個(gè)連接適配器對每條被測光纜完成的(參見圖5)。然而，測試的步驟是新的，參見圖6 的說明。

　　測試步驟包括了額外的帶連接器的一小短測試跳線，這樣測試的結(jié)果和方法B 獲得的結(jié)果將不一樣。就象方法B 一樣，結(jié)果包括光纜損壞以及兩端的連接器(注意圖6 的藍(lán)色部分)。兩條連接光纜以及每條鏈路的連接器從參考設(shè)置中排除出去。

保持測試的一致性

　　改進(jìn)的方法B 比原來的方法B 提供了幾個(gè)關(guān)鍵的好處，并且保持了其一致性：

　　1、改進(jìn)的方法B 所得到的損壞測量結(jié)果和ANSI/TIA/EIA-526-14A 中的方法B 是一 致的。根據(jù)方法B，可以正確地測量鏈路的損壞，測試的路徑比設(shè)置參考路徑時(shí)必須有額外的兩個(gè)適配器。本文所描述的測試步驟剛好符合這種要求。使用這種方法測量的損壞將是鏈路中光纜的損耗以及鏈路兩端連接器的損耗。該損耗值正好是網(wǎng)絡(luò)實(shí)際硬件應(yīng)用中所遇到的值。


圖 5、改進(jìn)方法B 的參考設(shè)置


圖 6、改進(jìn)方法B 測試設(shè)置

　　2、改進(jìn)方法B 使得可以使用不同類型的連接光纜連接測試儀和被測光纜鏈路。這就可以對使用不同類型的連接器所組成的光纜鏈路進(jìn)行一致的測試，包括那些使用微型連接器(SFF)的光纜鏈路。

　　改進(jìn)的方法B 使得不需要在測試儀器端斷開連接光纜，從而減少了可能由于重新插入所導(dǎo)致的污染誤差或損壞測試儀器的光接口。

解決了測試SFF 連接器的復(fù)雜性

　　單一的光源和光功率表可以有效地測試包含單一光纜的光纜鏈路，而使用單一電纜測試儀測試雙光纜鏈路比較笨拙且容易出錯(cuò)。雙光纜測試儀是測試雙連接器最佳的方法，所以是測試SFF 所推薦的方法。因?yàn)楣饫|鏈路測試的需求持續(xù)增長，新安裝的室內(nèi)光纜需要新的測試儀。而方法B 是首選的方法，并且在ANSI/TIA/EIA-568-A 標(biāo)準(zhǔn)中進(jìn)行了規(guī)定。而使用額外的測試跳線的改進(jìn)方法也是首選的，因?yàn)樗�提供了和方法B 一致的測試結(jié)果，而又提供了更大的靈活性來測試不同連接器的光纜鏈路。