EDGE網(wǎng)絡(luò)為手機制造商提出新的測量挑戰(zhàn)

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  許多運營商正將他們現(xiàn)有的2G GSM/GPRS網(wǎng)絡(luò)升級為2.75G蜂窩標準,例如EDGE(改進數(shù)據(jù)率GSM服務(wù))標準。EDGE實際最高數(shù)據(jù)數(shù)率為384 Kbps,是GPRS標準最高數(shù)據(jù)數(shù)率(115 Kbps,具有適當糾錯功能)的3.3倍。無需增加200 KHz頻道帶寬而提高數(shù)據(jù)數(shù)率需要提高頻譜利用率,從而需要使用更加復(fù)雜的調(diào)制方案。在EDGE標準中,選擇偏移8-PSK(8移相鍵控)代替GMSK(高斯最小移頻鍵控)調(diào)制方式。圖1演示8-PSK星座圖的EDGE收發(fā)器集成電路AD6546的輸出。


圖1:AD6546 EDGE發(fā)射機輸出


EDGE標準的獨特之處

  在手機設(shè)計的射頻(RF)部分,高質(zhì)量GMSK接收器的設(shè)計無需做任何修改即可用來解調(diào)8-PSK。雖然8-PSK的星座圖包含更多的點,但足可以滿足當今高集成度接收器、合成器的相位噪聲和噪聲指數(shù)要求,而且當信道帶寬不變時,濾波要求可保持不變。

  不過,需要對發(fā)射機的體系結(jié)構(gòu)做修改。最根本的問題在于GMSK信號是恒包絡(luò)調(diào)制,所以只需發(fā)射相位信息,從而限制了一部分發(fā)射機信號鏈。而另一方面,8-PSK需要相位和幅度信息滿足所有的必需指標。可通過一種稱為極化環(huán)路調(diào)制方案的技術(shù)來改進現(xiàn)有GMSK發(fā)射機體系結(jié)構(gòu)。在本設(shè)計中,幅度信息由另外一條鏈路處理,并且在功率放大器(PA)處重新組合幅度和相位信息。實際上8-PSK的相位處理與GMSK相同,但它們在調(diào)幅(AM)到調(diào)相(PM)的失真、PA效率以及驅(qū)動方式方面有所不同。


圖2:極化調(diào)制器的體系結(jié)構(gòu)


  修改3GPP發(fā)射機技術(shù)指標以適應(yīng)采用8-PSK調(diào)制方式的手機,用誤差向量幅度(EVM)代替相位誤差指標來表示8-PSK的附加調(diào)幅(AM)能力。而且也增加了原點偏移抑制,它是表征發(fā)射機質(zhì)量的重要度量。由于考慮到發(fā)射機和主要調(diào)制方案中的附加復(fù)雜度,放松了對調(diào)制頻譜的限制。然而除此之外,所有其它的GSM射頻發(fā)射和接收測試都可以用于EDGE終端。這是因為在正常的語音通話中,手機采用傳統(tǒng)的GMSK模式,所以該模式的性能仍然非常重要。



  3GPP附件G中RMS EVM的數(shù)學定義為:

  式中,E(k)是誤差向量,S(k)是理想的發(fā)射機信號。

  觀察星座圖中的發(fā)射機數(shù)據(jù)點,也可通過圖形表示EVM概念。根據(jù)圖3中所示的黑點,我們可以計算并且繪制出理想點。


  
圖3:A用 EVM分量表示的8-PSK星座圖,B用原點偏移表示的8-PSK星座圖


  這幅圖中紅線表示所測數(shù)據(jù)點示例,其相位和幅度都偏離理想值。相位和幅度誤差構(gòu)成了誤差向量的分量。發(fā)射機的不完美性,例如鎖相環(huán)(PLL)噪聲、PA失真效應(yīng)、熱噪聲以及調(diào)制器設(shè)計都會產(chǎn)生EVM。



  3GPP中原點偏移抑制定義為

  式中,C0表示載波饋通的恒定偏移,S(k)是理想發(fā)射機信號。

  在3GPP指標中,計算EVM之前的誤差信號不需考慮C0,但在原點偏移抑制指標中需考慮。原點偏移也可通過繪制星座圖來直觀描述。理想的星座圖位于正中心,非理想星座圖與中心點存在“偏移”。原點偏移是由發(fā)射機信號鏈中的直流偏移引起的。

  由于測試必需遵照3 GPP規(guī)范,所以我們可以使用具有EDGE選項或類似選項的羅德與施瓦茨(R&S)公司CMU 200射頻通信測試裝置。該裝置能夠根據(jù)GSM規(guī)范快速精確地測量參數(shù)。這些參數(shù)包括前面提到的EVM、原點偏移抑制以及調(diào)制頻譜。但對于覆蓋975個信道的四波段無線電收發(fā)機而言,每個信道都需要進行幾項測試。如果沒有自動測試設(shè)備則不可能完成這些任務(wù)。自動測試裝置也可用來控制待測器件(DUT)的溫度和電壓條件,從而確保達到快速、可重復(fù)和精確特性。圖5中所示是測量系統(tǒng)。


圖5. 測試系統(tǒng)


  控制器是具有HPIB接口的個人計算機(PC)。HPIB接口總線用來連接所有的儀器,當通話建立后,通過移動射頻(RF)信道發(fā)射信號控制DUT。如果DUT具有RF連接器,則與測試裝置連接很簡單;否則必須使用消聲室。若沒有完整尺寸的消聲室或者方案不可行,則可以使用具有合適天線耦合器的RF屏蔽盒,例如R&S CMU Z10。在這種情況下,必須仔細校正輻射損耗。

  PC上運行的是儀表儀器控制器程序。NI公司的LabVIEW或安捷倫公司的 VEE開發(fā)環(huán)境可提供理想的工具,并且其儀器驅(qū)動器也簡單易行。最終的程序應(yīng)包括3個關(guān)鍵部分:圖形用戶界面(GUI);測量程序;數(shù)據(jù)采集、組織和表示。

  主界面允許用戶配置測試的高級參數(shù),例如:測試的頻率波段;信道階躍寬度或?qū)S脺y試信道;測量;輸出數(shù)據(jù)文件位置。該軟件也包括“設(shè)置”界面,在這里可配置詳細參數(shù),包括網(wǎng)絡(luò)類型、GSM/EDGE選擇以及進一步設(shè)置GPRS/EGPRS模式。在該界面中,可鍵入RF損耗,它需要根據(jù)特定的測試環(huán)境校準。當配置設(shè)置后,其可保存測試配置以備將來使用。

  當用戶點擊F1:OK按鈕后(圖6),通信測試裝置要與DUT連接。


圖6 ADI公司開發(fā)的GUI主界面


  如果連接成功,將提示用戶建立通話。當通話建立后,所有的信令傳輸自動進行。然后將通過儀器控制程序收集數(shù)據(jù),然后存儲在電子表格中,并且在該環(huán)境中加以處理,以提供組織良好的圖表、最小值-最大值數(shù)據(jù)表以及用戶設(shè)置限制通過或失敗的信息。

幾種方案的測試結(jié)果


圖7 ADI公司組合測試程序生成的表格輸出界面


  使用上述ADI公司的測試環(huán)境可簡化EDGE和GMSK模式下手機設(shè)計的EDGE標準檢驗過程,并且獲得清晰的性能圖片。下文將對市場上最近推出的大批量生產(chǎn)的多波段EDGE手機和芯片組提供的測試結(jié)果進行總結(jié)。雖然我們可提供許多數(shù)據(jù)點,但下面的測試結(jié)果只總結(jié)了本文所討論的四類關(guān)鍵參數(shù):

  ● GMSK調(diào)制頻譜

  ● 8-PSK調(diào)制頻譜

  ● 原點偏移

  ● EVM

  第一種手機設(shè)計(圖8)能很好滿足了8-PSK頻譜、EVM和原點偏移指標。但在GMSK模式下調(diào)制頻譜正好位于其技術(shù)指標的極限值上。這是一個EDGE模式如何折中GMSK性能的例子。只使用GMSK調(diào)制方式的典型手機可提供6dB的裕量。


圖8 第一種設(shè)計測試結(jié)果數(shù)據(jù)點


  第二種設(shè)計(圖9)中這兩種調(diào)制頻譜表明其在規(guī)范上具有適當?shù)脑A,但有些信道的峰值EVM分布相當高并且接近30%。這可能是由調(diào)制器的拙劣設(shè)計或發(fā)射機頻率規(guī)劃問題引起的。


  
圖9 第二種設(shè)計測試結(jié)果數(shù)據(jù)點。


  第三種設(shè)計(圖10)表明GMAK模式下部分信道的調(diào)制頻譜接近于規(guī)范極限值。在8-PSK模式下,PCS波段高端的調(diào)制頻譜增加到超過規(guī)范。部分信道的峰值EVM也很差。這是一種三波段設(shè)計,但其在高頻存在一些嚴重的一致性問題。


圖10 第三種設(shè)計測試結(jié)果數(shù)據(jù)點


  第四種設(shè)計(圖11)表明了很好的EVM和原點偏移,它們具有規(guī)范之上的大裕量,但在臨界400 kHz偏移的調(diào)制頻譜表明其存在一些問題。在GMSK模式下,個別信道表明具有非一致性,這可能是與上變頻處理耦合時的一些中頻(IF)雜散發(fā)射引起的。在8-PSK模式下,基本掩碼值很小,或沒有規(guī)范之上的裕量。


圖11 第四種設(shè)計測試結(jié)果數(shù)據(jù)點


  第五種設(shè)計(圖12)使用Othello AD6546極性環(huán)路EDGE收發(fā)器IC。GMSK和8 PSK模式下的調(diào)制頻譜表明其具有60/54 dBc規(guī)范之上極好的裕量。正如原點偏移和EVM所示,調(diào)制質(zhì)量也表明具有很好的裕量。


圖12 第五種設(shè)計測試結(jié)果數(shù)據(jù)點


本文小結(jié)

  EDGE增強型標準為手機供應(yīng)商和設(shè)計工程師提出了新的挑戰(zhàn)。3GPP 45.005技術(shù)規(guī)范描述了生產(chǎn)符合標準的手機所需的附加測試。隨著大批量生產(chǎn)能夠支持EDGE標準的手機明顯增多,滿足手機指標具有足夠的裕量并且確保具有很高產(chǎn)量的要求,對成本敏感的消費類市場極其重要。由高集成度收發(fā)器(例如AD6546)組成的解決方案,并加上優(yōu)秀設(shè)計和體系結(jié)構(gòu)選擇是確保低的偏差和高產(chǎn)量的關(guān)鍵。然而為了驗證設(shè)計,IC和手機測試都非常重要。本文所描述的工具和方法論可提供理想的測試解決方案。


作者:美國模擬器件公司    來源:電子工程專輯網(wǎng)

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