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隨著全球電信網(wǎng)絡(luò)向著數(shù)字化、寬帶化、智能化方向發(fā)展，以大容量帶狀光纜為主要傳輸媒體的光纖用戶接入網(wǎng)正加速建設(shè)。而大容量帶狀光纜與單芯中繼光纜在施工技術(shù)方面存在一定差異。
1大容量帶狀光纜縱破（簡稱天窗）技術(shù)的應(yīng)用
以往，光纜大多作為中繼光纜，需要分支接頭的可能性很小。
帶狀光纖用戶接入網(wǎng)的特點(diǎn)是用戶交換點(diǎn)多，交換點(diǎn)距離近，從而導(dǎo)致光纜分支接頭點(diǎn)多。
為了保持光纜中不需分支光纖的完整性，在光纜配盤時(shí)，往往采用整盤配置，在需分支接頭位置，余留定量光纜，運(yùn)用大容量帶狀光纜縱破（天窗）技術(shù)進(jìn)行接續(xù)。帶狀光纜縱破技術(shù)是指在光纜配盤時(shí)，在采用整盤配置的前題下，將大容量帶狀光纜從需分支接頭的位置按所需尺寸，首先將光纜外皮及護(hù)套縱向破開，去除光纜外皮及護(hù)套；再用專用縱破刀或手術(shù)剪將中心束管縱向被開，去掉中心束管，將所需要分支的纖帶剪斷，并與分支光纜的纖帶相連，保留不需分支纖帶并進(jìn)行收容。本技術(shù)的應(yīng)用，可降低光纜中繼段內(nèi)接續(xù)損耗，減少光纖發(fā)生故障的概率，減輕施工人員的勞動強(qiáng)度，節(jié)約機(jī)械使用及接續(xù)材料費(fèi)用。
本技術(shù)在北京市中關(guān)村電話局用戶光纜網(wǎng)（西南環(huán)）試驗(yàn)環(huán)中首次采用并獲得成功，1998年在北京市100個光纜環(huán)施工中普遍推廣使用，取得了顯著的經(jīng)濟(jì)效益和社會效率。
2利用熔接機(jī)進(jìn)行環(huán)接
大容量帶狀光纜接入網(wǎng)光纜環(huán)中，光纜分支接頭較多，為便于光纜接續(xù)指標(biāo)的雙向測試，在光纜接續(xù)過程中，測試點(diǎn)均在局端（在交接點(diǎn)成端接續(xù)時(shí)，測試點(diǎn)在各被接交接點(diǎn)），在被接光纜的另一端用熔接機(jī)將相鄰的纖帶依次進(jìn)行環(huán)接。
上述技術(shù)的應(yīng)用必須嚴(yán)格按下列光纜接續(xù)施工程序進(jìn)行。
（1）局端成瑞接續(xù)。
（2）主干直通頭或主干分支頭接經(jīng)（由局端的一端開始依次進(jìn)行）。
（3）主干縱破分支頭接續(xù)。
（4）各交接點(diǎn)成瑞接經(jīng)（主干各接經(jīng)點(diǎn)指標(biāo)測試全部合格后進(jìn)行）。
3運(yùn)用OTDR的刷新栩式，提高接續(xù)測試速度
帶狀光纜的光纖具有很大的關(guān)聯(lián)性，即接續(xù)完一帶后進(jìn)行接續(xù)損耗測試，若按以往的測試方法（利用OTDR平均出處理進(jìn)行測試），若測完前11芯指標(biāo)合格，但第12芯不合格，則必須將其熔接纖帶剪斷重新熔接，而導(dǎo)致大量時(shí)間耗費(fèi)在測試上。
運(yùn)用OTDR刷新模式的測試時(shí)間短，而OTDR進(jìn)行平均化處理測試時(shí)間長的特點(diǎn)，在各接續(xù)測試過程中，首先采用OTDR的刷新模式測試（波長采用1550nm，可檢測出接續(xù)損耗及纖帶因彎曲半徑過小等原因引起的附加損耗）。刷新模式測試正常后，將接續(xù)熔接點(diǎn)用熱熔管加以保護(hù)并收容，再用OTDR進(jìn)行平均化處理測試，測出兩窗口（1550um，1310um）雙方向的衰耗指標(biāo)。
為進(jìn)一步提高測試速度，由于接入網(wǎng)用戶光纜環(huán)的距離比較短，在測試接頭衰耗數(shù)據(jù)時(shí)，在ODF架上，采取每次串接6纖，每帶分兩次測試的方法，可在同一測試曲線上讀出多個接頭點(diǎn)的衰耗數(shù)據(jù)（可用自動或手動游標(biāo)識位移聯(lián)動功能，測出各接續(xù)點(diǎn)衰耗），這樣可以減少測試次數(shù)。
4影響接續(xù)指標(biāo)的因素
4.1 影響成端接續(xù)指標(biāo)的因素
（1）光纖分配架上的原因：
a）帶／單分隔卡槽將帶狀光纖分隔成單芯光纖時(shí)引起光纖微彎而產(chǎn)生附加衰耗；
b）相合連接器沒有較好的重復(fù)性和互換性；
C）尾纖端頭磨損或不清潔；
d）尾纖因綁扎過緊而使纖帶擠壓變形。
（2）測試軟纖FC插頭磨損或不清潔。
（3）纖帶收容半徑過小。
（4）光纖熔接點(diǎn)接續(xù)衰耗過大或FC插頭沒有固定緊。
4.2 影響光纜接續(xù)指標(biāo)的因素
（1）光纜開剝過程中造成纖帶損傷。
（2）光纜在接頭盒內(nèi)固定過程中固定過緊，造成纖帶擠壓變形。
（3）光纖的幾何、光學(xué)參數(shù)：帶狀光纜每帶為12芯或24芯，所以其幾何、光學(xué)參數(shù)差異很大，從而造成接續(xù)衰耗大。但是如果在配盤時(shí)嚴(yán)格按光纜出廠盤號的順序進(jìn)行配盤，則可大大降低接經(jīng)損耗。
（4）光纖熔接點(diǎn)接續(xù)衰耗大或纖帶收容半徑過小。
