TD-LTE商用在即終端測(cè)試是重點(diǎn)

　　市場(chǎng)上有關(guān)TD-LTE的試商用已經(jīng)如火如荼地開展起來(lái)。伴隨著TD-LTE市場(chǎng)應(yīng)用的不斷發(fā)展，測(cè)試需求也在不斷增加，測(cè)試儀表和測(cè)試系統(tǒng)作為TD-LTE產(chǎn)業(yè)鏈的重要組成部分，對(duì)于產(chǎn)品的性能、研發(fā)和產(chǎn)業(yè)化起到了關(guān)鍵的推動(dòng)作用，特別是在有關(guān)終端測(cè)試的多模功能一體化測(cè)試系統(tǒng)、高速數(shù)據(jù)業(yè)務(wù)仿真測(cè)試系統(tǒng)、多網(wǎng)絡(luò)共存條件下的網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化工具等方面，TD-LTE提出了更高、更迫切的需求。測(cè)試儀表和系統(tǒng)廠商只有緊跟產(chǎn)業(yè)發(fā)展的腳步，及時(shí)開發(fā)出相應(yīng)的產(chǎn)品，才能搶占市場(chǎng)先機(jī)。

　　商用在即終端測(cè)試是重點(diǎn)

　　終端測(cè)試成為整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈最困難的部分，大家的眼睛都盯著此類儀器設(shè)備的開發(fā)。

　　中國(guó)即將成為全球TD-LTE最大市場(chǎng)，并建成最大的TD-LTE網(wǎng)絡(luò)。展望未來(lái)，TD-LTE有著巨大的發(fā)展空間，測(cè)試儀表和測(cè)試系統(tǒng)也蘊(yùn)含著巨大的發(fā)展機(jī)遇。盡管商用腳步已經(jīng)臨近，各環(huán)節(jié)中最不讓人放心的仍然是TD-LTE的終端性能。正如中國(guó)通信學(xué)會(huì)秘書長(zhǎng)張新生所說(shuō)，說(shuō)到底TD-LTE能不能得到發(fā)展，終端是一個(gè)非常關(guān)鍵的因素。在TD-LTE的發(fā)展中，高難度的動(dòng)作、復(fù)雜性的工作全留給終端了。TD-LTE多模多頻才能滿足需求，并且要在多模多頻的條件下，解決功耗問(wèn)題。此外，隨著云的發(fā)展，移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展，智能手機(jī)既是通信工具，又是上網(wǎng)工具，終端不僅是要關(guān)注硬件平臺(tái)，還要關(guān)心操作系統(tǒng)和多種多樣的應(yīng)用，終端芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜性可見(jiàn)一斑。

　　而中電集團(tuán)41所副總工程師劉祖深則表示，正因?yàn)槿绱�，終端測(cè)試便成為整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈中非常關(guān)鍵的一部分，所以大家的眼睛都盯著此類儀器設(shè)備的開發(fā)。不過(guò)隨著各方投入大量精力，已經(jīng)開發(fā)出多款包括支持TD-LTE在內(nèi)的終端測(cè)試方面的儀器儀表。41所也與大唐合作推出了相關(guān)綜測(cè)儀產(chǎn)品，41所負(fù)責(zé)射頻部分的開發(fā)。

　　羅德與施瓦茨公司中國(guó)區(qū)業(yè)務(wù)發(fā)展經(jīng)理陳曉宗介紹，對(duì)于TD-LTE芯片的研發(fā)以及驗(yàn)證，R&S提供了基于CMW500平臺(tái)的協(xié)議研發(fā)驗(yàn)證工具，還可以提供虛擬的協(xié)議測(cè)試方案，芯片開發(fā)人員提供了多種API接口，可以自定義不同的測(cè)試場(chǎng)景（如MLAPI、LLAPI等），并且有多種連接測(cè)試的方案，可以使用數(shù)字基帶接口與基帶芯片直連測(cè)試，也可以使用射頻接口連接測(cè)試，為芯片的開發(fā)提供便利。

　　未來(lái)終端環(huán)節(jié)的測(cè)試重點(diǎn)將圍繞終端上的各種應(yīng)用而展開，確保在終端平臺(tái)上運(yùn)行的流暢性。

　　4G無(wú)線寬帶順利發(fā)展的關(guān)鍵在于應(yīng)用。TD-LTE網(wǎng)絡(luò)建成、無(wú)線傳輸帶寬的加寬，意味著人們將進(jìn)入真正的移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)時(shí)代，由此帶來(lái)的科技和產(chǎn)業(yè)創(chuàng)新前景是無(wú)窮的。中國(guó)移動(dòng)研究院副院長(zhǎng)、GTI秘書長(zhǎng)黃宇紅介紹：“中國(guó)無(wú)線城市計(jì)劃將會(huì)充分利用TD-LTE，從而推出許多創(chuàng)新的應(yīng)用�！币虼丝梢灶A(yù)見(jiàn)，未來(lái)終端環(huán)節(jié)的測(cè)試重點(diǎn)將圍繞終端上的各種應(yīng)用而展開，確保在終端平臺(tái)上各種應(yīng)用運(yùn)行的流暢性。